Analysator für Edelmetalle Vanta™ GX LT

Benchtopfür die LuftfahrtXRF

Produktbeschreibung
Der Vanta GX Tisch‑XRF‑Analysator liefert schnelle, zerstörungsfreie Messungen von Zusammensetzung und Reinheit von Edelmetallen für Showroom‑ und Thekenanwendungen. Entwickelt für Juweliere, Pfandhäuser und Edelmetallkäufer, bietet der Vanta GX schnelle Karatklassifizierung und Elementidentifikation bei geringem Schulungsaufwand.

Vorteile

• schnelle, zerstörungsfreie Analyse von Gold, Silber, Platin, Palladium und weiteren Metallen
• sofortige Ergebnisse auf hellem Farbtouchscreen—keine Probenvorbereitung oder Säuren erforderlich
• Warnungen bei Vergoldung sowie für gefährliche Elemente (Blei, Cadmium)
• sichere Röntgenbetrieb: Emission nur bei geschlossenem Deckel; Abschirmglas und Sicherheitsleuchten
• integrierte Kamera verknüpft Bilder mit Prüfergebnissen für die Dokumentation
• drei Jahre Standardgarantie

Vanta GX: Präzision für Edelmetalle
Mit Silizium‑Drift‑Detektor (SDD) bietet der Vanta GX etwa 30 eV Auflösung und hohe Zählraten für zuverlässige Elementanalyse. Intuitive Software und anpassbarer Touchscreen erleichtern die Bedienung und Integration am Verkaufsort.

Produktvarianten
Vanta GX ist in zwei Modellen erhältlich, abgestimmt auf Durchsatz- und Präzisionsanforderungen:
Vanta GX‑LT: kostengünstige Edelmetallanalyse, Standardpräzision, 1 Messfleckgröße: 9 mm
Vanta GX‑LTS: Premium Hochdurchsatzanalyse für komplexen Schmuck, höhere Präzision, 3 Messfleckgrößen: 9 mm, 3 mm, 1 mm

Funktionen & Anwendungen

• Messung von Edelmetallen in Sekunden für Preisbildung und Karatklassifizierung
• Identifikation von Vergoldungen sowie plattierten/gefüllten Teilen
• Erkennung gefährlicher Elemente (Blei, Cadmium) in Schmuck
• Zusammensetzungsanalyse von Platin, Silber und weiteren Edelmetallen
• Bestimmung von Gold‑ und Silbergehalt in Münzen und Schrott
• Authentifizierung und Betrugserkennung
• Typische Thekenanwendungen: Pfandhäuser, Goldankauf, Juweliere, Museen, archäologische Fundstellen, Münzsammler, Altmetallrecycling

Modellvergleich (Kurzüberblick)
Vanta GX‑LTS | Vanta GX‑LT
Premium‑Edelmetallanalyse | Kostengünstige Edelmetallanalyse
Hoher Durchsatz, höhere Präzision | Standardpräzision, schnelle Ergebnisse
3 Messfleckgrößen: 9 mm, 3 mm, 1 mm | 1 Messfleckgröße: 9 mm

Warum Vanta GX

• Bedienerfreundliche UI und Datenexport für Berichte
• Optionale Kollimation mit mehreren Messfleckgrößen zur Analyse feiner Details (Fassungen, Verschlüsse)
• Präsentierbare Ergebnisse zur Kundenberatung und Kauf/Verkauf‑Entscheidungsunterstützung
• Kosteneffiziente Lösung mit schneller Amortisation

Technische Daten

• Gesamtmaße (Geschlossen H×B×T): 35,73 cm × 23,93 cm × 32,41 cm; (Offen): 38,78 cm × 23,93 cm × 39,08 cm
• Probenkammer (H×B×T): 9,39 cm × 17,67 cm × 17,34 cm
• Gewicht: 10 kg
• Anregungsquelle: GX‑LT: 2 W Röntgenröhre, 35 kV, 50 µA max.; GX‑LTS: 4 W, 40 kV, 200 µA max.; Wolfram‑Anode
• Detektor: Silizium‑Drift‑Detektor (SDD), thermoelektrisch gekühlt, Auflösung ~30 eV
• Netzteil/Leistung: 100–240 VAC, 50–60 Hz, 70 W (18 V, 3,9 A)
• Display: Farbtouchscreen 800×480 WVGA, kapazitiv
• Betriebsumgebung: −10 °C bis 40 °C; 10%–90% rel. Feuchte, nicht kondensierend
• OS / Software: Linux UI; Cloud‑Anbindung und Plugins; WebUI PC
• Kamera: Vollfarb‑VGA‑Kamera
• Garantie: Dreijährige Standardgarantie
• Ausgewählte Zubehörteile: AC‑Netzteil 70 W (18 VDC, 3,9 A), Netzkabel 1,8 m, USB‑Kabel 0,9 m
• Messfleckgrößen: GX‑LT: 9 mm; GX‑LTS: 9 mm, 3 mm, 1 mm
• Konnektivität: 1 Mini‑USB, 2 USB‑A