XRF-Analysator FT16 series

MaterialBenchtopfür die Luftfahrt

Ein fortschrittliches Gerät für Mikrospot-Analysen und Analysen von ultradünnen Beschichtungen – für modernste miniaturisierte Elektronik Schnelle, genaue Analysen von Beschichtungen im Nanobereich Mit dem FT160 stellen Sie durchgängig akkurate Beschichtungen auf Leiterplatten, Halbleitern und Mikrosteckern sicher und können selbst die kleinsten Strukturen zuverlässig und präzise messen. Die Optik- und Detektortechnologie des FT160 wurde für Mikrospot-Analysen und Analysen ultradünner Beschichtungen entwickelt und für die kleinsten Strukturen optimiert. Mit dem FT160 erreichen Sie mehr: Hochintensiver Röntgenstrahl – im Zentrum des Geräts steht eine neue polykapillare Optik mit einem 30-μm-Strahl, die kleinste Halbleitermuster und ultrakleine Strukturen analysieren kann. Hochsensibler SDD-Detektor – diese Hochleistungseinheit verdoppelt die Zählrate und steigert die Produktivität. HD-Kamera – die hohe Auflösung der Probenbetrachtungskamera – mit 16-fachem digitalem Zoom – stellt die Oberflächen von Leiterplatten und Halbleitern klar und genau dar, so dass Verzerrungen minimiert werden und wiederholte Tests überflüssig sind. Intelligente Controller-Software – das FT160 kann programmiert werden, um Messstellen automatisch auf Grundlage von Form und Muster zu ermitteln. So werden Genauigkeit und Durchsatz erhöht.