Röntgenspektrometer SPECTRO XEPOS

Fluoreszenzfür die RaumfahrtindustrieÜberwachung

Das energiedispersive Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (RFA/XRF) SPECTRO XEPOS definiert die ED-RFA- bzw. ED-XRF-Analyse durch seine außergewöhnliche Leistungsstärke völlig neu Die außergewöhnliche Messempfindlichkeit sorgt für eine bis zu 3x bessere Präzision - die Basis für eine hohe Genauigkeit bei der Analyse von Spurenelementen bis hin zu Hauptbestandteilen Adaptive Anregung, fortschrittliches Röhrendesign und ein Detektorsystem mit hoher Zählrate ermöglichen signifikant niedrigere Nachweisgrenzen (typischerweise um den Faktor 3) für eine Vielzahl von Elementen Bewältigt auch Unbekanntes: Die Turboquant II Software ermöglicht die Analyse unbekannter Proben, egal ob es sich dabei um Flüssigkeiten, Feststoffe oder Pulver handelt - beispielsweise Pflanzenmaterial, Kunststoff, Öl, Gestein oder Glas Das neue SPECTRO XEPOS stellt einen Quantensprung in der energiedispersiven Röntgenfluoreszenz-Technologie (ED-RFA/ED-XRF) dar. Es führt die neueste Generation von SPECTROs ED-RFA-Geräten an und ermöglicht bahnbrechende Fortschritte bei der Multi-Element-Analyse unterschiedlicher Konzentrationen – bis hin zu Spurenelementen. Durch neue Entwicklungen im Bereich Anregung und Detektortechnologie bietet das SPECTRO XEPOS eine außergewöhnliche Messempfindlichkeit und extrem niedrige Nachweisgrenzen – mit bemerkenswerter Verbesserung von Präzision und Genauigkeit. Insbesondere bei anspruchsvollen Aufgaben spielt das SPECTRO XEPOS seine Stärken aus – egal ob es dabei um schnelle Übersichtsanalysen oder präzise Qualitätskontrolle geht. Es ist prädestiniert für den Einsatz in einer Vielzahl von Branchen, wie beispielsweise Geologie, Bergbau, Umwelt, Abfallüberwachung,