Röntgeninspektionssystem Phoenix Microme|x Neo

Oberflächenfür ZfP3D

Leistungsstarke und hochwertige Nanofocus- und Mikrofokus-Inspektion für Elektronik Phoenix Microme|x Neo und Nanome|x Neo Der Phoenix Microme|x Neo und der Nanome|x Neo bieten hochauflösende 2D-Röntgentechnologie und PlanarCT und 3D-Computertomographie(CT) in einem System. So können Elektronikkomponenten wie Halbleiter, Leiterplatten und Lithium-Ionen-Akkus in den Bereichen Industrie, Automobile, Luftfahrt und Verbraucherelektronik zerstörungsfrei geprüft werden. Mit innovativer Technik und extrem hoher Positioniergenauigkeit eignen sich der Phoenix Microme|x Neo und Nanome|x Neo ideal für die Röntgeninspektion von Industrieelektronik in der Prozess- und Qualitätskontrolle für höhere Produktivität, Fehleranalyse für höhere Sicherheit und Qualität Ihrer Produkte und F&E zur Entwicklung neuer Innovationen. Entdecken Sie alle neuen Funktionen der neuesten Versionen von Phoenix Nanome|x und Microme|x Neo.