Detector de defectos con transductores múltiples OmniScan® X3 64

con focalización totalpara la aeronáuticapara la industria aeroespacial

Detector de defectos por Phased Array y TFM OmniScan™ X3 64 con capacidades avanzadas La potencia en modo portátil Protegidas por la carcasa robusta, portátil y comprobada en campo del OmniScan X3, las poderosas capacidades de focalización, que proceden del detector de defectos OmniScan X3 64 y se ven respaldadas por una apertura superior de elementos, permiten sacar el máximo provecho de las sondas de ultrasonido multielemento (Phased Array) de 64 elementos y la apertura de 128 elementos en el modo de focalización total (TFM). Utilice este rendimiento mejorado para enfrentar los desafíos de inspección que se plantean con materiales gruesos y atenuantes, y amplíe su potencial para desarrollar nuevos procedimientos destinados a un rango más amplio de aplicaciones. Detector de defectos por ultrasonido multielemento (Phased Array) OmniScan™ X3 con TFM Confíe en lo que ve El detector de defectos OmniScan X3 es una completa caja de herramientas que cubre la tecnología del ultrasonido multielemento (Phased Array). Las potentes herramientas, como el procesamiento de imágenes por el método de focalización total (TFM) y las capacidades de visualización avanzadas, respaldadas por su alta calidad de imagen, permiten completar las inspecciones con mayor confianza. Confirme con anticipo la cobertura de haz provista por el TFM La herramienta, denominada mapa de influencia acústica (AIM), proporciona un modelo visual instantáneo de la sensibilidad en función del modo TFM, las sondas, los parámetros y los reflectores simulados.