Analizador XRF FT230

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El analizador XRF de sobremesa FT230 ha sido diseñado para reducir significativamente el tiempo necesario para realizar una medición. Conscientes de que la mayor parte del tiempo se dedica a la preparación de la muestra y a la selección de la receta de medición, los ingenieros de Hitachi han creado un analizador innovador que se "prepara" por sí mismo, lo que permite analizar muchas más piezas en un solo turno. El analizador FT230 se caracteriza por su automatización y su innovador software. Los módulos de reconocimiento inteligente, como Find My Part™, significan que todo lo que el operario tiene que hacer es cargar la muestra, confirmar la pieza y el FT230 se encarga del resto. Encontrará las ubicaciones de medición correctas en su pieza -incluso en sustratos grandes-, seleccionará el programa de análisis correcto y enviará los resultados a su sistema de calidad. Se reducen el tiempo y los errores humanos, y se obtienen más análisis en menos tiempo, lo que hace que la inspección al 100% sea mucho más realista en un entorno de producción ajetreado. Aspectos destacados del producto Cada uno de los elementos del FT230 ha sido diseñado para reducir drásticamente el tiempo de análisis. El enfoque automatizado reduce el tiempo de carga de la muestra El reconocimiento inteligente Find My Part™ establece automáticamente la rutina de medición completa La vista de la muestra se presenta en una gran parte de la pantalla para una excelente visibilidad El diagnóstico de autocomprobación confirma la salud y la estabilidad del instrumento Se integra perfectamente con otro software y exporta fácilmente los datos Intuitivo y fácil de usar por personas no especializadas gracias a una nueva interfaz de usuario Potente para medir hasta cuatro capas a la vez más el sustrato Duradera para una larga vida útil en un entorno de producción o de laboratorio exigente Cumple con las normas ASTM B568 y DIN ISO 3497