Dispositivo de medición de superficie TR SCAN Z

digitalsin contactopara la industria aeroespacial

El TR Scan Compact Z es una columna de medición de altura en miniatura de última generación, diseñada para mediciones sin contacto en diversos materiales, incluidos el oro, superficies blandas y transparentes. Cuenta con controles de cámara intuitivos, brillo ajustable y puede realizar mediciones en piezas en movimiento con alta precisión. Utilizando la tecnología de Microscopía Confocal Cromática (CCMP), permite mediciones de altura en áreas inaccesibles para los sensores de contacto convencionales. Su sistema de posicionamiento rápido y preciso de la mesa X/Y y su capacidad de medición rápida en Z mejoran su eficiencia y versatilidad para diversas aplicaciones. La tecnología CCMP (Microscopía Confocal Cromática) combinada con una cámara digital permite la visualización del punto de medición "bola virtual" en la pieza. Gracias a este método, las mediciones de altura son posibles en lugares que un sensor de contacto convencional no puede alcanzar. El sistema de medición opcional en la mesa (X/Y) permite un posicionamiento rápido y preciso. El sistema de medición en Z extremadamente rápido (2000 Hz) permite mediciones de altura dinámicas en piezas en movimiento. - Sin contacto - Controles de cámara intuitivos - Brillo ajustable - Mediciones de altura / delta / min / max - Movimientos rápidos - Software fácil - Alta precisión - Mediciones en piezas en movimiento TR Scan Compact Z Sensor óptico - Distancia de trabajo: 31,8 mm - Rango de medición: 8 mm - Resolución: 0,1 µm - Apertura numérica: 0,25 - Ángulo máximo de medición: 90° +/- 15° - Tamaño del punto: 15 µm - MEP: 0,6 µm Sistema de medición X/Y - Tipo de sistema: Incremental - Resolución: 1 µm - MEP: ~ 10 µm - Conexión de interfaz: 2x USB 2.0 Visión - Transmisión de video: Imagen en vivo - Campo de visión: 7 x 5,25 mm - Resolución: 1600 x 1200 - Tamaño de píxel: ~4,3 µm - Tipo de sensor: CMOS color Otro - Conexión de interfaz: 2x USB 2.0 - Mediciones de superficie sin contacto en todo tipo de materiales como oro, superficies blandas, superficies transparentes, etc. Características técnicas / especificaciones: - Medición de altura sin contacto - Tecnología de Microscopía Confocal Cromática (CCMP) - Visualización por cámara del punto de medición - Sistema de medición X/Y opcional para un posicionamiento rápido y preciso - Sistema de medición en Z rápido (2000 Hz) - Distancia de trabajo: 31,8 mm - Rango de medición: 8 mm - Resolución: 0,1 µm (Z), 1 µm (X/Y) - Apertura numérica: 0,25 - Ángulo máximo de medición: 90° +/- 15° - Tamaño del punto: 15 µm - MEP: 0,6 µm (Z), ~10 µm (X/Y) - Interfaz: 2x USB 2.0 - Visión: Imagen en vivo, resolución 1600 x 1200, tamaño de píxel ~4,3 µm, sensor CMOS color - Campo de visión: 7 x 5,25 mm