Détecteur de défauts à transducteurs multiples OmniScan X4

par imageriepar focalisation en tout pointnumérique

Détectez et interprétez les défauts complexes et décelez les dommages plus tôt grâce à l’appareil de recherche de défauts multitechnologique OmniScan™ X4, à la fois puissant et portable. La détection des défauts liés à la HTHA étant complexe, plusieurs méthodes comme le TOFD, le PA, le TFM (avec sondes DLA™) et la PCI sont combinées pour maximiser l’efficacité. L’OmniScan™ X4 prend en charge ces techniques et offre des outils intégrés pour simplifier la configuration et l’analyse. •Configurations intégrées de sondes DLA et de scanners •Imagerie TFM à haute résolution (jusqu’à 1024 × 1024 points) •Outils logiciels permettant d’optimiser le processus d’inspection TFM, de la configuration à l’analyse (plan d’inspection avec modèle AIM, gain corrigé en fonction du temps [TCG] automatique, mode d’excitation dispersée, gain logiciel et curseur de palette, traitement en temps réel de l’enveloppe TFM et filtres d’image, portes et alarmes) •Ouverture TFM de 64 éléments et ouverture TFM étendue de 128 éléments (modèle 64:128PR de l’OmniScan X4) •Imagerie par cohérence de phase permettant d’améliorer les petits défauts et les pointes des fissures (tous les appareils OmniScan X4) •Possibilité d’acquérir simultanément jusqu’à 8 groupes TOFD et multiéléments, pour un survol préliminaire efficace •Possibilité d’acquérir et d’afficher simultanément jusqu’à 4 groupes TFM et PCI •Imagerie par émission d’ondes planes (PWI) disponible avec la TFM et la PCI (en utilisant l’appareil OmniScan X4 et des sondes linéaires)