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Analyseur XRF X-Supreme8000
de matériauxbenchtoppour l'aéronautique

analyseur XRF
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Caractéristiques

Type
de matériaux
Configuration
benchtop
Autres caractéristiques
pour l'aéronautique, XRF, fluorescence de rayons X

Description

L’analyse XRF (fluorescence X) avec le très flexible et très puissant spectromètre X-Supreme8000 à fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF) et avec le LAB-X5000 pour le contrôle qualité et les contrôles des procédés dans une large gamme d'applications telles que le pétrole et les huiles, le traitement du bois, les minéraux, l’exploitation minière, les cosmétiques, le ciment et le papier. Pourquoi choisir les analyseurs élémentaires XRF Hitachi ? Faciles d’utilisation Très peu, voire aucune préparation d’échantillon Limites de détection basses Conception robuste pour les environnements difficiles Logiciel flexible pour la personnalisation utilisateur et pour le développement de méthodes Programmation faciles des paramètres Analyses qualitatives ou quantitatives complètes Possibilité de réaliser des analyses qualitatives ou quantitatives complètes

Catalogues

FT110A
FT110A
6 Pages
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.