Spectromètre optique SPECTROGREEN
pour l'aérospatiale

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Caractéristiques

Type
optique
Domaine
pour l'aérospatiale
Longueur d'onde

Min: 165 nm

Max: 770 nm

Description

Nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI) qui permet d'atteindre une sensibilité deux fois supérieure à celle des instruments conventionnels à vision radiale et à plasma La technologie TI permet d'obtenir la plus haute sensibilité pour les éléments à l'état de traces, ainsi qu'une absence d'interférences avec la matrice et une bonne précision pour les matrices environnementales difficiles Nouveau système de lecture GigE permettant le transport des spectres en moins de 100 ms pour des vitesses d'analyse plus rapides, des temps d'échantillonnage plus courts et plus d'échantillons par heure Générateur LDMOS extrêmement agile qui rend le refroidissement externe inutile : analyse de matrices d'échantillons difficiles dans des dilutions plus faibles pour des limites de détection plus basses - préchauffage plus rapide (~10 minutes) pour une productivité accrue La nouvelle technologie DSOI de SPECTRO, une toute nouvelle approche du problème critique de la conception de la vue du plasma, utilise une torche à plasma verticale, observée via une nouvelle technologie de vue radiale directe. Deux interfaces optiques capturent la lumière émise des deux côtés du plasma, en n'utilisant qu'une seule réflexion supplémentaire, pour une sensibilité accrue et l'élimination des problèmes rencontrés par les nouveaux modèles à double vue à torche verticale. En conséquence, DSOI offre deux fois plus de sensibilité que les systèmes radiaux classiques, tout en évitant la complexité, les inconvénients et le coût des modèles à double vision verticale. Le modèle à double interface combine automatiquement les vues axiales et radiales du plasma - en regardant à la fois à travers le plasma et de bout en bout - optimisant la sensibilité, la linéarité et la gamme dynamique tout en évitant les effets de matrice comme l'EIE. Le résultat : SPECTROGREEN TI offre la plus haute sensibilité pour les éléments traces, ainsi qu'une absence d'interférences matricielles et une bonne précision pour les matrices environnementales difficiles.

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