Mesureur d'épaisseur de verre EddyCus® TF lab 2020RM

de filmsans contactpour l'aéronautique

L'EddyCus TF dep (depth profiler) est un appareil industriel unique de mesure par courants de Foucault utilisant des fréquences de 10 kHz à 100 MHz dédié à la caractérisation d'échantillons plats. La variation de la fréquence de mesure permet de contrôler la profondeur de pénétration. Les mesures à haute fréquence permettent de caractériser les caractéristiques des matériaux proches de la surface des matériaux en vrac et des films minces. De plus, la sensibilité augmente avec la fréquence de mesure. Par conséquent, les matériaux et les couches à très faible conductivité peuvent également être caractérisés. En outre, l'appareil permet de générer des profils de profondeur en utilisant des mesures multi-fréquences. Les paramètres de mesure sont la conductivité et les caractéristiques associées. Applications et configurations Test de conductivité de matériaux en vrac avec différentes profondeurs de pénétration Tri des matériaux Test d'épaisseur de couches métalliques conductrices sur des matériaux non conducteurs Détermination de l'épaisseur de peinture (lift-off) sur des matériaux conducteurs Caractérisation des propriétés des matériaux telles que la dureté ou la microstructure dans les couches minces proches de la surface des matériaux hautement et faiblement conducteurs Caractéristiques du système Intégration de capteurs personnalisés en fonction de la tâche de mesure (profondeur de pénétration, taille du spot, sensibilité) Champ de mesure : 200 x 200 mm ; mesure au centre Aide au positionnement de l'échantillon Logiciel convivial pour le suivi et l'exportation des données