Système d'inspection à rayons X Phoenix Microme|x Neo

de surfacepour CND3D

Contrôle de précision nano et microscopique haute performance pour l'électronique Phoenix Microme|x Neo et Nanome|x Neo Le Phoenix Microme|x Neo et le Phoenix Nanome|x Neo offrent des technologies de radiographie 2D haute résolution, PlanarCT et de tomographie 3D par ordinateur (CT) au sein d'un même système, vous permettant ainsi de réaliser des essais non destructifs (END) de vos composants électroniques (tels que les semi-conducteurs, circuits imprimés, batteries lithium-ion, etc.) dans les secteurs de l'industrie, de l'automobile, de l'aviation et des appareils électroniques grand public. Grâce à une technique innovante associée à une précision de placement élevée, le Phoenix Microme|x Neo et le Nanome|x Neo se prêtent parfaitement aux contrôles radiographiques industriels des composants électroniques dans le cadre de l'évaluation de la qualité et des processus, afin d'améliorer la productivité, l'analyse des défaillances pour des produits plus sûrs et de meilleure qualité, et la recherche et développement, source de toute innovation. La gamme exclusive de détecteurs d'exception DXR-HD de Waygate Technologies comprend : 1) Le tout nouveau détecteur DXR S100 Pro grande taille de résolution supérieure, qui incarne la technologie de pointe en imagerie : Assure une résolution supérieure de 100 μm et une fréquence d'images allant jusqu'à 30 images par seconde, en combinant détectabilité exceptionnelle et grande efficacité Grande zone active de 300 x 250 mm qui élargit significativement la vision et redéfinit l'efficacité de contrôle 2) Le détecteur breveté DXR250RT à dynamique élevée, doté de l'avancée technologique de scintillation,