Scanner per bagagli XIS-6545DV™

per ispezioneper aeroportoa raggi X

Informazioni sul prodotto
Il XIS-6545DV™ è un sistema di ispezione a raggi X (XIS) progettato per il controllo a doppia vista. I due generatori da 180 kV forniscono angoli di osservazione ascendenti e diagonali. Ogni vista è gestibile in modo indipendente per consentire ispezioni rapide e approfondite e l'uso simultaneo di diverse modalità di controllo.
Con il software di imaging Astrophysics, il XIS-6545DV™ offre immagini colorate ad alto contrasto che aiutano gli operatori a identificare materiali, riconoscere oggetti e isolare potenziali minacce con maggiore velocità e precisione.

Punti salienti

• Immagine a doppia vista (ascendente e diagonale)
• Immagini ad alta risoluzione con colore a 24 bit
• Migliore discriminazione dei materiali
• Sistema operativo Windows con processore Intel® Core™
• Diagnostica in tempo reale e monitoraggio del sistema
• Analisi delle immagini ad alto contrasto e filtri colore

Specifiche
Generatore:
Doppio 180 kV
Dimensione del tunnel:
65,7 cm x 45,1 cm (25,9" x 17,8")
Lunghezza:
213,3 cm (84,0")
Larghezza:
101,6 cm (40,0")
Altezza:
129,0 cm (50,8")

Specifiche tecniche

• Modello: XIS-6545DV™
• Tipo di sistema: Sistema di ispezione a raggi X a doppia vista
• Generatore: Doppio 180 kV
• Dimensione del tunnel: 65,7 cm x 45,1 cm (25,9" x 17,8")
• Dimensioni (L x P x A): 213,3 cm x 101,6 cm x 129,0 cm (84,0" x 40,0" x 50,8")
• Imaging: Doppia vista, alta risoluzione 24 bit; discriminazione avanzata dei materiali; analisi ad alto contrasto
• Software/SO: Windows OS con processore Intel® Core™; diagnostica in tempo reale