Centralina di acquisizione dati di surperficie QuickScan iX ECA

per l'aeronauticaad alta velocitàsenza display

Lo strumento di acquisizione QuickScan iX ECA è specificatamente progettato per le ispezioni superficiali negli ambienti produttivi di componenti. Il suo design è conforme agli stessi affidabili standard industriali 24 V I/O come il collaudato strumento QuickScan iX PA. Ad ogni unità possono essere collegati fino a otto sonde. Alcune unità di acquisizione possono essere combinate per delle configurazioni più complesse in termini di sonde o velocità. Efficace soluzione eddy current array per le ispezioni superficiali nei processi produttivi Lo strumento di acquisizione QuickScan iX ECA è specificatamente progettato per le ispezioni superficiali negli ambienti produttivi di componenti. Il suo design è conforme agli stessi affidabili standard industriali 24 V I/O come il collaudato strumento QuickScan iX PA. Ad ogni unità possono essere collegati fino a otto sonde. Alcune unità di acquisizione possono essere combinate per delle configurazioni più complesse in termini di sonde o velocità. Strumento QuickScan iX ECA Realizzato per resistere ai contesti industriali Lo strumento QuickScan iX ECA rappresenta la nostra ultima generazione di unità di acquisizione eddy current per i sistemi di ispezione industriali. L'unità di acquisizione soddisfa le esigenze del grado di protezione IP55 e si integra facilmente nei contesti industriali.