Rilevatore di difetti a trasduttori multipli OmniScan X4

ad imagingcon metodo di focalizzazione totale (TFM)digitale

Mediante il potente ma portatile rilevatore di difetti a multitecnologie OmniScan™ X4 è possibile rilevare e interpretare i difetti complessi, oltre a identificare tempestivamente le alterazioni. OmniScan™ X4 con PA, TFM e PCI Rilevamento preciso di cricche da HTHA di piccole dimensioni. Grazie a tecniche combinate come TOFD, PA, TFM e sonde DLA™, l’X4 garantisce ispezioni efficaci. Il supporto al PCI migliora l’individuazione di difetti minori. Include strumenti software per semplificare configurazione e analisi. •Configurazione integrata dello scanner e della sonda DLA •Immagini TFM a alta risoluzione (fino a 1 024 × 1 024 punti) •Strumenti software per ottimizzare il processo di ispezione TFM, dalla configurazione all'analisi (piano di scansione con modello AIM, YCG automatico, trasmissione ridotta, guadagno software e cursore palette, oltre a involucro TFM live e filtri delle immagini, gate e allarmi) •Apertura TFM da 64 elementi e apertura TFM estesa da 128 elementi (modello OmniScan X4 64:128PR) •Imaging a coerenza di fase per migliorare i difetti di ridotte dimensioni e le estremità delle cricche (tutti gli strumenti OmniScan X4) •Acquisizione simultanea di un massimo di 8 gruppi TOFD e phased array per assicurare un controllo efficiente •Acquisizione e visualizzazione simultanea di un massimo di 4 gruppi TFM e PCI •PWI (plane wave imaging - imaging onda piana) disponibile con TFM e PCI (utilizzando lo strumento OmniScan X4 con sonde array lineari)