Misuratore di spessore di vetro EddyCus® TF lab 2020SR

di filmsenza contattoper l'aeronautica

L'EddyCus® TF lab 2020 Series consente misurazioni manuali a punto singolo di film sottili conduttivi e misurazioni dello spessore di strati metallici sottili in modalità senza contatto. Il dispositivo compatto da banco è ideale per misurazioni veloci e accurate di campioni fino a 200 x 200 mm² (8 x 8 pollici). Oltre alla misurazione di strati conduttivi sottili si possono analizzare anche wafer drogati e polimeri conduttivi. Highlights Misurazione in tempo reale senza contatto Misurazione precisa di film sottili conduttivi Caratterizzazione di strati conduttivi nascosti e incapsulati Funzioni di salvataggio ed esportazione dei dati di misura Caratteristiche Resistenza del foglio Misura dello spessore degli strati metallici Misura a punto singolo Controllo di qualità, ingresso e uscita Dimensioni dei campioni: Da 10 x 10 mm² a 200 x 200 mm² (da 0,5 x 0,5 pollici a 8 x 8 pollici) Campo di misura: 0.Da 1 mOhm/sq a 100 kOhm/sq Applicazioni Vetro architettonico rivestito, per esempio LowE Display, touch screen e schermi piatti Applicazioni OLED e LED Vetro intelligente Strati di grafene Wafer e celle fotovoltaiche Wafer semiconduttori Strati di metallizzazione e metallizzazione di wafer Applicazioni di sbrinamento e riscaldamento Elettrodi per batterie Carta rivestita conduttivamente e tessuti conduttivi