製品情報XIS-6545DV™は、デュアルビュー検査用に構成されたX線検査システム(XIS)です。2基の180 kV発生器により、上向きおよび斜めの撮像角度を提供します。各ビューは独立して操作でき、迅速かつ詳細な検査や異なる検査モードの同時使用を可能にします。
Astrophysicsのイメージングソフトウェアを用いることで、XIS-6545DV™は高コントラストのカラー画像を生成し、材料の識別、物体の認識、潜在的な脅威の特定をより速く正確に行えるよう支援します。
製品の特長- デュアルビュー撮像(上向きおよび斜め)
- 24ビットカラーの高解像度画像
- 材料識別性能の向上
- Intel® Core™プロセッサ搭載のWindows OS
- リアルタイム診断とシステム監視
- 高コントラスト画像解析とカラー フィルタ
仕様発生器:
デュアル 180 kV
トンネル寸法:
65.7 cm x 45.1 cm (25.9" x 17.8")
全長:
213.3 cm (84.0")
全幅:
101.6 cm (40.0")
全高:
129.0 cm (50.8")
技術仕様- モデル:XIS-6545DV™
- システム種別:デュアルビューX線検査システム
- 発生器:デュアル 180 kV
- トンネル寸法:65.7 cm x 45.1 cm (25.9" x 17.8")
- 外形寸法(L x W x H):213.3 cm x 101.6 cm x 129.0 cm (84.0" x 40.0" x 50.8")
- イメージング:デュアルビュー、高解像度24ビットカラー;材料識別の強化;高コントラスト解析
- ソフトウェア/OS:Windows OS、Intel® Core™プロセッサ;リアルタイム診断