サーフェス用データ取り込みシステム QuickScan iX ECA
航空宇宙用高速度ディスプレイ無し

サーフェス用データ取り込みシステム - QuickScan iX ECA - Evident - Inspection Technologies - 航空宇宙用 / 高速度 / ディスプレイ無し
サーフェス用データ取り込みシステム - QuickScan iX ECA - Evident - Inspection Technologies - 航空宇宙用 / 高速度 / ディスプレイ無し
サーフェス用データ取り込みシステム - QuickScan iX ECA - Evident - Inspection Technologies - 航空宇宙用 / 高速度 / ディスプレイ無し - 画像 - 2
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特徴

物質的特性
サーフェス用
応用
航空宇宙用
オプションとアクセサリー
高速度
ディスプレイ
ディスプレイ無し
重量

8.7 kg
(19.18 lb)

詳細

QuickScan iX ECAデータ収集装置は、材料生産環境の表面探傷専用に設計されています。実証済みのQuickScan iX PAデータ収集装置と同様に、信頼できる24 V I/O工業規格に適合する設計です。装置あたり最大8台のプローブを接続できます。プローブ数や速度に関して要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。 工程内表面探傷向けの強力な渦流アレイソリューション QuickScan iX ECAデータ収集装置は、材料生産環境の表面探傷専用に設計されています。実証済みのQuickScan iX PAデータ収集装置と同様に、信頼できる24 V I/O工業規格に適合する設計です。装置あたり最大8台のプローブを接続できます。プローブ数や速度に関して要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。 QuickScan iX ECAデータ収集装置 工業要求に耐える設計 QuickScan iX ECAは、工業用探傷システム向けに開発された最新の渦流データ収集装置です。IP55に準拠しており、工業環境に問題なく適応することができます。

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28-29 10月 2026 Amsterdam (オランダ)

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    NIDV 2026
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    18-19 11月 2026 (オランダ)

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