XRF分析装置 HM1000

材料ベンチトップ型航空用

フタル酸エステル簡易スクリーニング用昇温脱離質量分析計HM1000Aは、電子部品の新RoHS2.0指令に対応しています。 HM1000Aベンチトップアナライザーは、APCI（大気圧化学イオン化）と赤外分光法の高度な組み合わせにより、サンプル内のフタル酸エステル類の総量を測定します。総量がRoHS 2.0の規制値を超えている場合、そのサンプルはより高度な装置でさらに検査することができます。規制値内の試料は、さらなる分析の必要がないため、分析時間の短縮につながります。 HM1000Aを選ぶ理由 迅速かつシンプルなフタル酸エステル類の検査 HM1000Aは、PCBなどのサンプルに含まれるフタル酸エステル類の総量を迅速に知ることができる、シンプルなスクリーニング試験を提供します。この試験にかかる時間はわずか10分で、より複雑な試験方法よりもはるかに短時間です。 大量生産に対応 1回の検査にかかる時間は10分未満ですが、HM1000Aは一度に50サンプルまで採取できるオートサンプラーを搭載しているため、大量分析がより簡単になります。この50検体の分析をベンチトップ型分析装置で行うと、最短で8時間で分析が完了します。 低ランニングコスト HM1000Aは、他のフタル酸エステル検出方法と異なり、ランニングコストが非常に安価です。サンプルホルダーは安価で、窒素中で測定を行うため、高価なヘリウムを購入し保管する必要がありません。 直感的で使いやすい HM1000Aはとても使いやすいので、少しトレーニングすれば誰でも使えるようになります。質量分析計のソフトウェアは直感的に操作できるように設計されており、結果は解釈しやすいフォーマットで表示されます。また、結果はExcelでエクスポートすることも可能です。