フィルム用厚み測定装置

測定範囲: 2 mm

... EddyCus® TF lab 2020シリーズは、導電性薄膜の手動によるシングルポイント測定や、金属薄膜の層厚測定を非接触で行うことができます。コンパクトなベンチトップ型の装置で、最大200 x 200 mm²（8 x 8インチ）のサンプルを迅速かつ正確に測定するのに最適です。導電性薄膜の測定だけでなく、ドープされたウェハーや導電性ポリマーの分析も可能です。 ハイライト 非接触でのリアルタイム測定 導電性薄膜の正確な測定 隠れた導電層やカプセル化された導電層の特性評価 測定データの保存とエクスポート機能 特徴 シート抵抗 金属層の厚み測定 シングルポイント測定 品質管理、入出庫管理 サンプルサイズ10×10mm²～200×200mm²（0.5×0.5インチ～8×8インチ 測定範囲 ...

... EddyCus TF dep（デプスプロファイラ）は、10 kHz～100 MHzの周波数を利用するユニークな工業用渦電流測定装置で、平板試料の特性評価に特化しています。測定周波数を変化させることで、浸透深度を制御することができます。高周波での測定は、バルク材や薄膜の表面近傍の材料特性を評価するのに有効です。また、測定周波数が高くなるにつれて感度が高くなります。したがって、非常に低い導電性の材料や層の特性評価も可能です。さらに、この装置では、複数の周波数測定を利用して深さ方向のプロファイルを生成することができます。測定パラメータは、導電率および関連する特性です。 アプリケーションとセットアップ 異なる浸透深度のバルク材料の導電性試験 材料の選別 非導電性材料上の導電性層の金属層厚み測定 導電性材料上の塗膜厚測定（リフトオフ 高導電性材料や低導電性材料の表面近傍の薄い層における硬度や微細構造などの材料特性の特性評価 システムの特徴 測定タスク（浸透深さ、スポットサイズ、感度）に応じてカスタマイズされたセンサー統合 測定領域： ...

測定範囲: 2 mm

... EddyCus® TF lab 4040シリーズは、中型基板の非接触一点測定に特化した装置です。ベンチトップ型の装置で、セットアップ次第で、シート抵抗、金属厚、光学的透明度、電気的（非）等方性を正確に手動で測定することができます。最も一般的なアプリケーションは、薄い導電性の透明または非透明の層、ウェハー、金属シートの測定です。 ハイライト 非接触、リアルタイム、堅牢 高精度で再現性の高い測定 高品質な測定を実現します。 均一な接触品質 パッシベーション / カプセル化 粗さ 敏感な層への影響なし 正確な測定 従来の導電性薄膜 グリッドとワイヤー構造 マルチレイヤーシステム 隠れた導電層やカプセル化された導電層 磨耗なし ソフトウェアによるマニュアルマッピングで体系的な品質保証を実現 多くの測定データの保存とエクスポート機能 省スペースでスマートモニターを統合（タッチパネルでの測定とデータ評価に対応 お客様のプログラムを使用したソフトウェア開発キットによるテストの自動化 タイプ デバイスには、電気的特性評価用の渦電流センサーや、光学的特性評価用のセンサーなど、さまざまなセンサーを搭載することができます。デバイスプラットフォームのバリエーションには、以下のオプションがあります。 ...

測定範囲: 2 mm

... EddyCus® TF map 2525シリーズは、最大250 x 250 mm²（10 x 10インチ）のサンプルの特性を非接触で自動的に画像化します。手動でサンプルを配置すると、自動的にサンプル全体の特性分布を測定・表示します。測定設定により、1分以下の高速測定や、1サンプルあたり50,000点以上の高い空間測定分解能を簡単かつ柔軟に選択することができます。結果として得られるマッピングは、透明層や非透明層、ウェハやメタルシートの均質性や品質を正しく把握することができます。ベンチトップ型の装置では、セットアップ次第で、シート抵抗、金属の厚さ、光学的透明度を正確にイメージングすることができます。 ハイライト 非接触 高速かつ正確な測定 導電性薄膜の高解像度マッピング 最大250 ...