Sistema de teste de vida e de qualificação para avaliação da fiabilidade de díodos laser em regime CW ou pulsado até 1 nanossegundo. Até 112 dispositivos de fibra totalmente independentes são testados eletricamente, termicamente e opticamente de acordo com vários cenários de teste programados pelo utilizador.
Este sistema de teste de fiabilidade de díodos laser foi especialmente concebido para a qualificação e teste de dispositivos acoplados a fibras com o máximo de flexibilidade de medição interna e externa. A potência ótica do díodo laser é medida independentemente dos BFMs ou de alguns fotodíodos externos com ganho variável para uma maior precisão. Permite o ajuste independente e preciso da temperatura de cada pacote de díodo laser e de cada chip de díodo laser.
Este sistema de teste de fiabilidade de díodos laser é um sistema de avaliação de fiabilidade compatível com pulsações curtas, ideal para testes de vida útil e testes de qualificação.
Caraterísticas principais :
De CW (onda contínua) até menos de 1 ns de largura de pulso
Teste CW-LIV e Pulsado-LIV para evitar efeitos térmicos
comportamento 100% independente de cada díodo laser
Ideal para Butterfly ou outros pacotes acoplados a fibra (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can, etc.)
Memória flash incorporada em cada bandeja de 8 díodos laser
GUI de supervisão de programação com interface gráfica fácil de utilizar
Proteção total do laser com janela de proteção especial
As aplicações deste sistema de teste de fiabilidade de díodos laser incluem quaisquer qualificações, testes de vida útil ou testes de queima:
Em paralelo com o processo de produção para equipas de I&D e de qualificação
No final do processo de produção do díodo laser
Após a produção, quando se trata de aplicações que exigem elevados níveis de fiabilidade, como a indústria aeroespacial, centrais nucleares, etc.
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