Destaques do produto- Pequena área ocupada e perfil estreito para instalações em espaços reduzidos
- Imagens coloridas 24 bits de alta resolução com análise de alto contraste
- Discriminação de materiais aprimorada para identificação mais rápida de ameaças
- Sistema Windows com processador Intel® Core™
- Diagnósticos em tempo real
- Túnel amplo (62,0 cm x 45,0 cm) em um chassi compacto
Informações do produtoO XIS-6545N™ é um sistema compacto de inspeção por raios X projetado para pontos de controlo e locais com espaço limitado. Com um quadro exterior estreito e um túnel de 62,0 cm x 45,0 cm (24.4" x 17.7"), inspeciona uma ampla gama de objetos reduzindo a área ocupada. Utilizando a tecnologia de imagem da Astrophysics, os operadores obtêm imagens em alta definição, cor 24 bits, com alto contraste, permitindo discriminar materiais e localizar rapidamente potenciais ameaças com maior precisão. O sistema funciona com Windows e processador Intel® Core™ e fornece diagnósticos em tempo real para operação contínua e resolução rápida de problemas.
Especificações (resumo)- Gerador: 160 kV
- Tamanho do túnel: 62,0 cm x 45,0 cm (24.4" x 17.7")
- Comprimento: 153,4 cm (60.4")
- Largura: 83,7 cm (32.9")
- Altura: 130,5 cm (51.4")
Especificações técnicas- Imagem: cor 24 bits de alta resolução; análise de imagem de alto contraste
- Discriminação de materiais: capacidades aprimoradas
- Plataforma: Windows com processador Intel® Core™
- Diagnósticos: diagnósticos em tempo real
- Design: chassi compacto com área ocupada reduzida e túnel amplo para pontos de controlo / implantações em espaço limitado