Analisador XRF FT110A

de materiaisde bancadapara aeronáutica

Analisadores de materiais e espessura de revestimentos XRF microspot para rápido controlo da qualidade e testes de validação, facilitando a obtenção dos resultados certos em segundos. A análise de espessura e materiais de revestimento baseada em fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica amplamente aceite e comprovada pela indústria, oferecendo análises fáceis de usar, rápidas e não destrutivas, exigindo pouca ou nenhuma preparação de amostras, capaz de analisar sólidos ou líquidos numa ampla faixa de elementos, do alumínio (13) ao urânio (92) na tabela periódica. Sistema contador proporcional Faixa de elemento: Ti-U Projeto da câmara: fechado ou com fenda Opções de estágio XY: Base fixa, motorizado Maior amostra: 500 x 400 x 150 mm Número máximo de colimadores: 4 Filtros: 1 Menor colimador: 0.05 mm Software X-ray Station