Sistema de inspeção de raios X Phoenix Microme|x Neo

de superfíciepara CND3D

O Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo oferecem tecnologia de raio X 2D em alta resolução, PlanarCT e tomografia computadorizada (CT) 3D em um sistema, possibilitando ensaios não destrutivos (NDT) de componentes eletrônicos – como semicondutores, placas de circuito impresso, baterias de íons de lítio – no setor industrial, automotivo, de aviação e de eletrônica para o consumidor. Com uma engenharia inovadora associada à precisão de posicionamento extremamente alta, o Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo são ideais para inspeções em componentes eletrônicos industriais com raio X para o controle de processos e da qualidade, aumentando a produtividade, para análise de falhas, aumentando a segurança e a qualidade dos seus produtos, e para a R&D, onde surgem as inovações. O parque de detectores DXR-HD brilhantes e exclusivos da Waygate Technologies inclui: 1) O mais novo detector DXR S100 Pro de grande porte - resolução de pixel superior que define a tecnologia de imagem líder do setor: Oferece resolução superior de 100 µm pixel e taxas de quadros de até 30 quadros por segundo, que combina excelente detectabilidade com alta eficiência A grande área ativa de 300 mm x 250 mm expande significativamente a visão e redefine a eficiência da inspeção 2) Detector exclusivo DXR250RT altamente dinâmico - a tecnologia de cintilador aprimorada apresenta um novo padrão do setor para inspeções ao vivo eficientes: A taxa de frames total de 30 frames por segundo a 1000 x 1000 pixels oferece um baixo ruído associado a uma qualidade de imagem brilhante, que garante inspeções ao vivo rápidas e detalhadas