Scanner de TC altamente flexível para detetar falhas e vazios em compósitos, peças fundidas e peças de pecisão AM
O Phoenix V|tome|x L 300 é um sistema versátil de microfocus de alta resolução com opção nanoCT® para tomografia computorizada 3D (análise de falhas estruturais e metrologia) e inspeção 2D não destrutiva por raios X.
O sistema Phoenix V|tome|x L 300 está equipado com uma fonte de microfocus unipolar de 300 kV/500 W e capacidade opcional de nano CT em combinação de tubo duplo com um tubo de raios X de nanofocus de alta potência de 180kV/20W para a melhor detetabilidade de detalhes de 2,0 µm.
O scanner CT processa amostras de grandes dimensões até 50 kg e até 600 mm de diâmetro com uma precisão extremamente elevada. O sistema é uma excelente solução flexível para a deteção de vazios e falhas em compósitos, peças fundidas e peças de precisão, por exemplo, peças fabricadas por aditivos ou pás de turbinas. Permite também a metrologia 3D de alta precisão em conformidade com a norma VDI/VDE 2630-1.3.
Vantagens
Vantagens exclusivas:
Micro e nanoCT Scanning nos limites do tamanho e densidade da amostra (até 50 kg e até 600 mm de diâmetro)
Grande flexibilidade para inspeção 2D e 3D numa vasta gama de aplicações
Características
Algumas das características do Phoenix V|tome|x L 300 são:
Rápida aquisição de TC e imagens brilhantes através da próxima geração de detectores Dynamic 41 altamente sensíveis
Componentes principais exclusivos da Waygate Technologies, tais como tubos de raios X, detectores e software
Características opcionais patenteadas, como a tecnologia High-flux|target ou Scatter|correct
- Precisão de medição líder de SD ≤ (6,8 ± L/100 mm) µm de acordo com a norma VDI/VDE 2630-1.3 para uma revalidação fiável do desempenho do sistema
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