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Espectrómetros ópticos
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... espectroscopia de emisión óptica (OES, por sus siglas en inglés) es una técnica analítica ampliamente utilizada y confiable que se usa para determinar la composición elemental de una amplia gama de metales. Nuestros ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Longitud de onda: 117 nm - 670 nm
... espectroscopia de emisión óptica (OES, por sus siglas en inglés) es una técnica analítica ampliamente utilizada y confiable que se usa para determinar la composición elemental de una amplia gama de metales. Nuestros ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Longitud de onda: 185 nm - 672 nm
... espectroscopia de emisión óptica (OES, por sus siglas en inglés) es una técnica analítica ampliamente utilizada y confiable que se usa para determinar la composición elemental de una amplia gama de metales. Nuestros ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Longitud de onda: 165 nm - 420 nm
... espectroscopia de emisión óptica (OES, por sus siglas en inglés) es una técnica analítica ampliamente utilizada y confiable que se usa para determinar la composición elemental de una amplia gama de metales. Nuestros ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Longitud de onda: 175 nm - 420 nm
... espectroscopia de emisión óptica (OES, por sus siglas en inglés) es una técnica analítica ampliamente utilizada y confiable que se usa para determinar la composición elemental de una amplia gama de metales. Nuestros ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
Longitud de onda: 175 nm - 770 nm
... funcionamiento: purga óptica mínima de 0,5 l/min, sin necesidad de refrigerador de agua Mayor rapidez: menos de 10 minutos de calentamiento (antes eran más de 30) con el nuevo generador LDMOS El SPECTRO GENESIS ...
SPECTRO
Longitud de onda: 130 nm - 770 nm
... superior a la de los sistemas basados en Echelle - ofrece el mejor rendimiento de su clase en la gama UV/VUV El espectrómetro de emisión óptica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES) de SPECTRO ...
SPECTRO
Longitud de onda: 165 nm - 770 nm
... utiliza una antorcha de plasma vertical, observada mediante una nueva tecnología de vista radial directa. Dos interfaces ópticas capturan la luz emitida desde ambos lados del plasma, utilizando sólo un reflejo adicional, ...
SPECTRO
Longitud de onda: 165 nm - 770 nm
... Un analizador elemental diseñado para aplicaciones exigentes: el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (ED-XRF) SPECTRO XEPOS redefine el análisis XRF con nuevos y excepcionales niveles de ...
SPECTRO
Longitud de onda: 165 nm - 770 nm
... El más rápido de su clase: Dos veces más rápido que las pruebas típicas, alta precisión con alta velocidad Sobresale en alcance y precisión: Paquetes de aplicación optimizados Facilidad de uso sin precedentes: Sólo tres sencillos pasos ...
SPECTRO
... El estándar de oro reconocido por el mercado para el análisis de elementos de metales preciosos Amplia gama de > 30 elementos respaldados por extensas calibraciones de fábrica que proporcionan la mejor precisión para trazas y mayores Tiempos ...
SPECTRO
... Cribado de conformidad rápido y no destructivo con tamaños de punto flexibles, de 0,1 a 4 mm Escaneo de líneas de elementos y mapeo: Obtenga una composición elemental cualitativa en cuestión de minutos - otros instrumentos micro-XRF pueden ...
SPECTRO
... Disponible en dos versiones para pruebas de campo y fuera del sitio o para pruebas de laboratorio y en línea, estos nuevos espectrómetros portátiles proporcionan un rendimiento excepcional. Visite el Centro de Recursos ...
SPECTRO
Longitud de onda: 120 nm - 770 nm
... años a desarrollar los principales instrumentos de OES del mundo. Ahora, ha perfeccionado el uso de detectores de estado sólido con su tecnología patentada CMOS+T para revolucionar el análisis de OES ...
SPECTRO
Longitud de onda: 120 nm - 670 nm
... precisamente eso. Su historial de fiabilidad ha contribuido a que SPECTROMAXx sea el analizador de espectrometría de emisión óptica (OES) de arco/chispa más vendido del sector. Sus mediciones rápidas, precisas y rentables ...
SPECTRO
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