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Espectrómetro de emisión óptica SPECTROSCOUT kt
para la industria aeroespacialde inspecciónpara la identificación de aleaciones

Espectrómetro de emisión óptica - SPECTROSCOUT kt - SPECTRO - para la industria aeroespacial / de inspección / para la identificación de aleaciones
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Características

Tipo
de emisión óptica
Sector
para la industria aeroespacial
Otras características
compacto, portátil, de inspección, XRF, de alta sensibilidad, para la identificación de aleaciones

Descripción

Descripción general
El SPECTROSCOUT kt es un analizador ED‑XRF portátil diseñado para ensayos precisos y no destructivos de metales preciosos in situ. Combina la capacidad analítica de un ED‑XRF de bancada con la movilidad necesaria para ofrecer resultados elementales rápidos y fiables en el lugar de uso.

Características clave
  • Analizador ED‑XRF portátil configurado para metales preciosos y sus aleaciones
  • Ciclos de medición rápidos (habitualmente en 30 segundos) con alta sensibilidad y precisión
  • Cobertura elemental de hasta 25 elementos presentes en aleaciones de metales preciosos
  • Ensayos no destructivos in situ adecuados para valoración, control de calidad y punzonado
  • Punto de análisis pequeño para piezas pequeñas y pruebas dirigidas
  • Software intuitivo para operación y generación de informes sencillos
  • Diseño compacto y resistente para uso frecuente en taller o campo
  • Opción rentable para pequeños operadores y usuarios de alto volumen

Aplicaciones
  • Inspección de entrada, control de calidad y verificación de punzones de metales preciosos y aleaciones
  • Usuarios habituales: centros de punzonado, joyerías, oficinas de ensayo, joyeros, casas de empeño, fabricantes, refinadores y recicladores

Recursos adicionales
Webinarios bajo demanda, informes de aplicaciones, white papers y un folleto del producto están disponibles en la biblioteca de recursos del producto (disponibilidad indicada en la ficha del producto).

Especificaciones técnicas
  • Tecnología: fluorescencia de rayos X dispersiva en energía (ED‑XRF)
  • Finalidad: análisis elemental in situ de metales preciosos y aleaciones
  • Cobertura de elementos: hasta 25 elementos en aleaciones de metales preciosos
  • Tiempo típico de medición: a menudo en 30 segundos para un alto rendimiento de muestras
  • Tipo de medición: ensayo no destructivo
  • Prioridades de diseño: portabilidad, pequeño punto de análisis, tamaño compacto, durabilidad, facilidad de uso, eficiencia de costes
  • Usuarios previstos: centros de punzonado, joyeros, oficinas de ensayo, casas de empeño, refinadores, recicladores y negocios similares

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.