Software per reportistica PC-DMIS FUSION

di qualitàdi analisidi analisi statistica

Panoramica
PC-DMIS FUSION è l'applicazione di reporting e analisi di Hexagon per gli utenti PC-DMIS, che trasforma i dati di misura in informazioni in tempo reale, visualizzazioni, insight e analisi SPC. I dati si sincronizzano automaticamente da PC-DMIS e i report vengono avviati dalla schermata principale di PC-DMIS con un solo clic.

Concetti chiave
PC-DMIS FUSION offre report basati sui ruoli che presentano le informazioni giuste all'operatore CMM, all'ingegnere di metrologia, al responsabile qualità o al responsabile produzione. Supporta attività che vanno dalla revisione di una singola misura in officina al monitoraggio di un processo su più turni e all'esecuzione di analisi statistiche su popolazioni di produzione. FUSION combina velocità, semplicità e profondità analitica per aiutare i team qualità a passare dall'ispezione reattiva alla gestione predittiva della qualità.

Esperienza utente
Un'interfaccia moderna e intuitiva e workflow guidati dall'utente forniscono a operatori, ingegneri e responsabili un accesso rapido ai dati necessari. Lavora con dati dimensionali in un ambiente di reporting interattivo: ordina, filtra ed esplora i risultati, passa tra viste testuali e CAD e visualizza riepiloghi dei pezzi, insight e registri eventi insieme ai risultati numerici.

Distribuzione
FUSION si installa insieme a PC-DMIS e conserva i dati di misura sull'hardware locale. È progettato per funzionare senza connessione Internet o account cloud, mantenendo i dati di misura sui propri sistemi.

Capacità statistiche e analitiche
Analisi statistiche potenti senza complessità superflua: comprendere il comportamento di un processo nel tempo, ricevere avvisi precoci quando comincia a deviare e prevedere le tendenze delle caratteristiche sulla base di campioni recenti per attivare avvisi prima che si verifichino violazioni delle tolleranze.

Caratteristiche

• Reporting e visualizzazione interattivi: ordina, filtra, esplora i risultati; viste testo e CAD; riepiloghi pezzo, insight e registri eventi.
• Monitoraggio qualità in tempo reale: osserva la produzione in vista griglia o CAD, alimentazione automatica dei dati di misura da PC-DMIS, evidenzia le caratteristiche con prestazioni peggiori e genera avvisi in caso di deviazione.
• Qualità predittiva: previsione delle tendenze delle caratteristiche e avvisi pre-tolleranza per passare dall'ispezione reattiva all'avviso proattivo.
• Controllo statistico di processo (SPC): Cp/Cpk per caratteristica con limiti configurabili, controlli delle regole di Nelson attivabili singolarmente, grafici di trend, istogramma e box plot, supporto per caratteristiche critiche con soglie di avviso più rigide.
• Analisi basata sulla tracciabilità: filtra i campioni per operatore, turno, macchina, lotto o campi di tracciabilità personalizzati; combina filtri per stato e finestra temporale; esplora dalle statistiche aggregate fino ai singoli campioni.
• Storia misurazioni ricercabile: richiamare report storici con un clic, cercare un archivio di dati dimensionali e report metrologici per analisi delle cause, audit e tracciabilità; dati legacy importabili tramite DFQ drag-and-drop.

Usi tipici
Revisionare misurazioni singole in officina; monitorare il comportamento del processo su più turni; eseguire analisi statistiche sulla popolazione di produzione; svolgere indagini sulle cause radice usando dati storici ricercabili e filtri di tracciabilità.

Specifiche tecniche

• Sincronizzazione dati: automatica da PC-DMIS
• Reporting: report basati sui ruoli per operatore, ingegnere, qualità e produzione
• Modello di distribuzione: installato on‑premise insieme a PC-DMIS; archiviazione dati locale (nessun cloud richiesto)
• Funzionalità SPC: Cp/Cpk, regole di Nelson, limiti configurabili, grafici trend/istogramma/box plot
• Filtraggio e tracciabilità: operatore, turno, macchina, lotto, campi di tracciabilità personalizzati
• Dati storici: archivio ricercabile, import DFQ per dati legacy
• Visualizzazioni interattive: viste griglia e CAD, drill-down fino ai singoli campioni