表面用測定装置 TR SCAN Z

デジタル非接触式宇宙産業用

TR Scan Compact Zは、金、柔らかい表面、透明な表面を含むさまざまな材料に対して非接触測定を行うために設計された最先端のミニチュア高さ測定カラムです。直感的なカメラコントロール、調整可能な明るさを備え、移動する部品の測定を高精度で行うことができます。 共焦点クロマティック顕微鏡ポイント（CCMP）技術を利用して、従来の接触センサーではアクセスできない領域での高さ測定を可能にします。迅速かつ正確なX/Yテーブルの位置決めシステムと高速なZ測定機能により、さまざまな用途での効率と多様性が向上します。 デジタルカメラと組み合わせたCCMP技術により、部品上の「仮想ボール」測定ポイントの視覚化が可能です。この方法のおかげで、従来の接触センサーが到達できない場所での高さ測定が可能です。オプションのテーブル上の測定システム（X/Y）は、迅速かつ正確な位置決めを可能にします。非常に高速なZ測定システム（2000 Hz）は、移動する部品の動的な高さ測定を可能にします。 - 非接触 - 直感的なカメラコントロール - 調整可能な明るさ - 高さ/デルタ/最小/最大測定 - 迅速な動き - 簡単なソフトウェア - 高精度 - 移動する部品の測定 TR Scan Compact Z 光学センサー - 作業距離: 31.8 mm - 測定範囲: 8 mm - 解像度: 0.1 µm - 数値開口: 0.25 - 最大測定角度: 90° +/- 15° - スポットサイズ: 15 µm - MEP: 0.6 µm X/Y測定システム - システムタイプ: インクリメンタル - 解像度: 1 µm - MEP: ~ 10 µm - インターフェース接続: 2x USB 2.0 ビジョン - ビデオストリーム: ライブ画像 - 視野: 7 x 5.25 mm - 解像度: 1600 x 1200 - ピクセルサイズ: ~4.3 µm - センサータイプ: カラーCMOS その他 - インターフェース接続: 2x USB 2.0 - 金、柔らかい表面、透明な表面など、あらゆる種類の材料に対する非接触表面測定 技術的特徴/仕様: - 非接触高さ測定 - 共焦点クロマティック顕微鏡ポイント（CCMP）技術 - 測定ポイントのカメラ視覚化 - 迅速かつ正確な位置決めのためのオプションのX/Y測定システム - 高速Z測定システム（2000 Hz） - 作業距離: 31.8 mm - 測定範囲: 8 mm - 解像度: 0.1 µm (Z), 1 µm (X/Y) - 数値開口: 0.25 - 最大測定角度: 90° +/- 15° - スポットサイズ: 15 µm - MEP: 0.6 µm (Z), ~10 µm (X/Y) - インターフェース: 2x USB 2.0 - ビジョン: ライブ画像、1600 x 1200解像度、~4.3 µmピクセルサイズ、カラーCMOSセンサー - 視野: 7 x 5.25 mm