表面用測定装置 TR SCAN WLI

光学式非接触式宇宙産業用

高精度非接触表面測定。 TR Scan Compact WLIシリーズは、あらゆる種類の材料に対してサブナノメートルの解像度で測定を可能にします。使いやすさと小型サイズにより、ラボ環境に簡単に統合され、迅速かつ簡単な測定を可能にします。 WLI（白色光干渉計）技術とピエゾモーターを組み合わせることで、非常に高速な測定が可能です。テーブルは最大5 kgのワークピースを手動で移動できます。X&Y測定範囲を拡張するためのモーター駆動テーブルもオプションで利用可能です。 - 非接触 - 小型 - 測定範囲400 µm - 解像度0.1ナノメートル - 非常に使いやすい - 広い視野を持つ2.5倍および5倍のミケルソン型光学系 - 交換可能な光学系、またはカルーセルに取り付け可能 技術詳細 解像度: 0.1 nm 横方向解像度 (X/Y): 4.81 µmから0.52 µm 測定範囲: 400 µm 光学ズーム: 2.5倍から100倍 作業距離: ~10.3 mmから~3.4 mm 仕様 温度範囲: 0から50 [°C] チャンネル: 2 解像度: 0.01 [°C] 精度: ±0.5 [°C] 通信プロトコル: USBまたはシリアル通信 電源: USBまたはシリアルから 電源: 0.5 [W] 寸法: 82 x 102 x 36 [mm] 重量: 350 [g] 温度センサー センサータイプ: PT100 ケーブル長: 3 [m] 許容差: DIN EN 60751 クラス1/3 DIN シリアル通信設定 ボーレート: 9600 [ビット/秒] ビット: 8 パリティ: なし 利用可能なモデル TR Scan Compact WLI TR Scan C. WLI MA 73×55 TR Scan C. WLI MO 75×50 TR Scan C. WLI MO 100×100 TR Scan Compact WLI 複数の目的 (カルーセル) TR Scan E. WLI MA 73×55 TR Scan E. WLI MO 75×50 TR Scan E. WLI MO 100×100 ブランド: Trimos 製品: TR Scan Compact WLI 測定技術: 白色光干渉計 (WLI) 解像度: 0.1 nm 測定範囲: 400 µm 手動およびモーター駆動テーブルオプション 交換可能な光学系、カルーセルオプション 重量: 350 g (センサーなし) 寸法: 82 x 102 x 36 mm (センサーなし) 電源: USBまたはシリアル 動作温度: 0から50°C