Hitachi のベンチトップ型分析装置

... のような他の方法と比較した場合、メンテナンスコストは極めて低くなります。 堅牢性 自動ターンテーブルにより、EDXRF分析装置の主要コンポーネントから試料を遠ざけることができるため、損傷のリスクを最小限に抑え、メンテナンスコストを低く抑えることができます。 分析装置は、堅牢で現場で実証済みのコンポーネントと工業用PCで構築されています。これらの特長により、ベンチトップXRF分析レンジは、最も過酷な生産施設でも使用できるタフさを備えています。どちらのEDXRFスペクトロメーターにも工場保証が付いています ...

... オートサンプラーを搭載しているため、大量分析がより簡単になります。この50検体の分析をベンチトップ型分析装置で行うと、最短で8時間で分析が完了します。 低ランニングコスト HM1000Aは、他のフタル酸エステル検出方法と異なり、ランニングコストが非常に安価です。サンプルホルダーは安価で、窒素中で測定を行うため、高価なヘリウムを購入し保管する必要がありません。 直感的で使いやすい HM1000Aはとても使いやすいので、少しトレーニングすれば誰でも使えるようになります。質量分析計のソフトウェアは直感的に操作 ...

... リチウムイオン電池の製造における品質管理を迅速かつ効率的に行うためのX線分析装置EA8000。 EA8000は、X線透過イメージングと蛍光X線分析を1台に統合し、リチウムイオン電池の性能に大きな影響を与える金属汚染物質を迅速に検出・特定します。原料試験、工程管理、故障解析に適したEA8000は、LiBの品質と性能を確保するための強力なツールです。 高速分析 EA8000Aは、透過型X線イメージングと蛍光X線スペクトロスコピーを組み合わせた画期的な手法により、他の手法に比べ100倍以上の高速スキャン ...

... える測定インジケーター コーティングや元素分析を追加できるオプションも用意 ベンチトップEDXRF分析装置 迅速なRoHS対応スクリーニング（Pb、Hg、Cd、Cr、Br) 典型的なRoHSスクリーニング時間< 70秒（プラスチック用）、< 340秒（真鍮用） RoHSスクリーニングのための校正の自動選択 元素の範囲Al ...

... EA1400は、RoHS（有害物質規制）用に特別に設計されたベンチトップ蛍光X線分析装置で、この指令に適合する必要がある企業にとって、一貫した結果を提供することで15年以上の信頼を得てきました。簡単で迅速なRoHS対応測定により、環境規制の要求事項を確実に満たすことができます。 日立蛍光X線分析装置RoHS分析装置が選ばれる理由 ...

マイクロスポット（XRF）コーティング膜厚と材料分析装置を使用し、品質管理とバリデーションテストを行い、簡単に結果を得ることができます。 蛍光X線分析（XRF）に基づく膜厚と材料分析は、業界で広く使用され実証された分析技術であり、簡単で高速、非破壊的な分析が可能で、ほとんどサンプル処理を必要とせず、固形又は周期律表のアルミニウム（13）からウラン（92）までの広い範囲の液体まで分析可能です。 優れた分解能と高効率SDDを備えたMAXXI ...

... Microspot XRF膜厚・材料分析装置で、迅速な品質管理とバリデーションテストを実現し、数秒で正しい結果を得ることを容易にします。 蛍光X線（XRF）に基づく膜厚・材料分析は、広く受け入れられ、業界で実証済みの分析技術です。使いやすく、迅速で非破壊の分析を提供し、サンプル前処理をほとんど必要とせず、周期表の13Alから92Uまでの幅広い元素範囲の固体または液体を分析することが可能です。 PCB/PWB仕上げ 仕上げ工程を制御する能力は、基板のピッチ、信頼性、保存期間を決定します。IPC ...

... Microspot XRF膜厚・材料分析装置で、迅速な品質管理とバリデーションテストを実現し、数秒で正しい結果を得ることを容易にします。 蛍光X線（XRF）に基づく膜厚・材料分析は、広く受け入れられ、業界で実証済みの分析技術です。使いやすく、迅速で非破壊の分析を提供し、サンプル前処理をほとんど必要とせず、周期表上の13Alから92Uまでの幅広い元素範囲の固体または液体の分析が可能です。 PCB/PWB仕上げ 仕上げ工程を制御する能力は、基板のピッチ、信頼性、保存期間を決定します。IPC ...

... ベンチトップ型蛍光X線分析装置FT230は、測定にかかる時間を大幅に短縮するために設計されています。日立の技術者は、サンプルのセットアップと測定レシピの選択に最も時間がかかることを認識し、効果的に「セットアップ」する画期的な分析装置を開発しました。 自動化と革新的なソフトウェアがFT230の特徴です。Find ...