宇宙産業用分光計

波長: 130 nm - 770 nm

新型デュアルサイドオン・インターフェース（DSOI）が、感度を高めながらも、コンタミ／マトリックスマッチングの問題を取り除きます 2つに代わり1つで：マーケットで唯一のマルチビュープラズマ装置―真のアキシャルそしてラジアル（シングルまたはデュアル）プラズマ測光を1台の装置内に搭載 ORCA光学系システム：エシェル光学系システムと比較し最大5倍の感度を有し、130～770nm範囲を同時スペクトラムキャプチャ ― 紫外／真空紫外領域で最高のパフォーマンスを提供 SPECTRO ...

波長: 165 nm - 770 nm

従来のラジアルプラズマビュー機器の2倍の感度を実現する新しい革新的なデュアルサイドオンインターフェース（DSOI）技術 TI技術により、微量元素に対して最高の感度が得られるだけでなく、マトリックス干渉がなく、困難な環境マトリックスに対して優れた精度が得られます。 新しいGigE読み出しシステムにより、100ミリ秒未満で分光を転送できるため、分析スピードが速くなり、サンプル間の時間が短くなり、1時間あたりのサンプル数が増えます。 外部冷却を不要にする非常に機敏なLDMOSジェネレーター：検出下限を下げるために低希釈で難しいサンプルマトリックスを分析—生産性を高めるためにウォームアップを高速化（約10分） SPECTROの新しい ...

波長: 175 nm - 770 nm

シーケンシャルICPおよびフレーム原子吸光の強力な代替手段：1日あたり最大700サンプルを分析する機能を備えた175〜770nmの波長範囲での同時分光キャプチャ 低い運用費用：最小0.5 l / minの光学パージ、ウォーターチラーは不要 ゲートからの高速化：新しいLDMOSジェネレーターによるウォームアップ時間は10分未満（以前は30分以上） SPECTRO GENESISは、最初にメソッドを作成する必要のない、ファクトリーメソッドの完全なセットを備えた最初で唯一のICP-OES（ ...

波長: 165 nm - 770 nm

要求の厳しいアプリケーション向けに設計された元素分析装置– SPECTRO XEPOSエネルギー分散型蛍光X線（ED-XRF）分析装置は、XRF分析を非常に新しいレベルの性能で再定義します。 卓越した感度により、最大3倍の精度が向上します。これは、微量元素から主要元素に至るまで正確な分析をおこなうための基礎となります。 かつてない微量レベル： 適応性に優れた励起、高度な管球設計、および高カウントスループット検出システムにより、広範囲の元素の検出下限（感度の性能）が大幅に（通常は3倍）向上します。 未知のものをマスターする： ...

波長: 165 nm - 770 nm

クラス最速：一般的な検査と比較し2倍の速さ、かつ高精度 カバーする元素の数と分析正確さに優れます：最適化されたアプリケーションパッケージ 使いやすさを追求：わずか3つのステップで正確に分析 新型SPECTROCUBE ED-XRF分析装置は、さまざまなアプリケーションに対して、簡単で信頼性が高く、正確で、高スループットな分析を提供します。 例：貴金属の分析、コンプライアンススクリーニングまたは燃料と潤滑油の分析。 SPECTROCUBE分析装置には、高分解能で高カウントレートの検出器を含む最先端のED-XRFテクノロジーが組み込まれており、短い測定間隔、直感的なソフトウェアによる簡単なワークフロー、低中断時間を実現します。 SPECTROCUBEは、最小限のトレーニングを受けたユーザーでも、比類のない使いやすさで高速でスムーズなワークフローを実現します。 ...

貴金属マーケットにおける品位判定機のスタンダード 主成分、微量ともに最高の正確度で分析することができるファクトリー・キャリブレーションをベースに、30を超える元素をカバー 最大3分の1短縮された測定時間：従来と同等の測定時間で極めて優れた結果を得るか、大幅に短縮した測定時間で従来と同程度の結果を得るかの選択が可能となりました 元素分析の正確度は、特に貴金属の評価において重要とされることがあります。 他のアプリケーションでは、スピードがさらに重要です。 大量のものを扱うホールマークセンターでは、高速かつ正確な分析が求められます。 ...

0.1から4mmまでの柔軟なスポットサイズ選択機能を備えた高速かつ非破壊でのコンプライアンススクリーニング 元素のラインスキャン／マッピング機能：わずか数分で定性的な組成情報を得ることができますー他の微小部蛍光Ｘ線装置では数時間かかることがあります プラスチックや合金のスクリーニングのためのファクトリー・キャリブレーションを備えた包括的なソフトウェアスイート SPECTRO MIDEXは、研究開発、産業におけるコンプライアンススクリーニングアプリケーションのための多元素分析業務、高感度かつ微小部の高速で非破壊的な分析が求められる学術研究等において、大きな表面（最大233×160 ...

貴金属合金用の軽量でポータブルな元素分析装置。スポットサイズはわずか1mm 高速かつオンサイト： 岩石、堆積物、土壌の元素分析。 Naから始まる元素範囲、関連する微量元素の検出下限は、他のポータブルおよびハンドヘルドXRF装置と比較して大幅に低くなっています。 生産ラインで： アプリケーション固有のパッケージによる高い生産性。 高い分析力を備えた小さなフットプリント。 新しいポータブル型SPECTROSCOUT ED-XRF分析装置は、最高級のラボ用ベンチトップ分析装置の分析能力の多くを提供します。 ...

波長: 120 nm - 770 nm

製品の特徴 CMOS分光器を採用することにより、光電子増倍管（PMT）よりも同等以下の検出限界（LODs）をもち、且つ高い繰り返し精度を実現しました。 新型プラズマジェネレーターとすることにより、高エネルギーのプラズマジェネレーターと点火装置による、分析時間の短縮を実現しました。 スパークスタンド内部の部品を刷新することにより、装置内部の清掃管理が容易となりました。このことは保守時間の短縮に貢献します。 装置本体サイズを約30%縮小することができ、より設置場所の選択肢が増えました。また、装置レイアウトに変更を加えたことにより、操作性の向上を図りました。 校正システムiCAL2.0により、装置校正時間の大幅な短縮を実現しました。（校正時間：約5分）また、周囲の温度が多少変化しても、より安定性のある分析を行うことができるようになりました。 製品の概略仕様 測定波長範囲：120 ...

波長: 120 nm - 670 nm

製品の特徴： 装置が小型であるため、設置場所に選択肢が増えます。また、設置場所によりベンチトップ（BT）タイプ、あるいはフロア（FV）タイプを選択できます。 iCAL（Intelligent Calibration Logic）システムにより、1点の試料で標準化が完了しますので（約5分）、標準化作業の大幅な時間短縮が可能となります。 受光部に高解像度CMOS/CCDマルチディテクタを採用していますので、光電子増倍管タイプに比べ、分析可能元素が極めて多くなっています。 例）Feベース：最大31元素、Alベース：最大36元素 ※その他、Cu, ...

... MM2 最も困難な操作のために設計された軍事信頼性の高いGC MS用の新世代モバイル質量分析計。 化学的脅威は複雑で進化し続けています。BrukerのMM2は、これらの複雑さを解明するために設計された軍事、硬化、モバイルおよび軽量GC/MSシステムの最新の開発です。 業界をリードするMM2は、化学物質の検出と同定のためのゴールドスタンダードソリューションを提供します。 MM2は、膜入口を備えた新世代の四重極質量分析計です。 表面プローブや熱吸収機能を備えたガスクロマトグラフなどのフレキシブルなアクセサリを備えており、あらゆる検出タスクに対応できます。 ...

... E²Mモバイル環境質量分析計 最初の応答と環境使用のためのGC MSソリューション。 E²Mは、化学物質の迅速かつ信頼性の高いオンサイト識別のために設計された、モバイル、コンパクトで堅牢な四重極GC/MSシステムです。 E²Mは、世界的に有名なGC/MSシステムEM 640の後継機であり、移動性の向上、小型化、そして最も重要な性能の向上を表しています。 このシステムはマルチロールであり、車両に取り付けたときに静的に動作することも、移動中に動作させることもできます。 ...