X 線分光計 SPECTRO XEPOS
蛍光宇宙産業用監視用

X 線分光計
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特徴

タイプ
蛍光, X 線
分野
宇宙産業用
その他の特徴
エネルギー分散用蛍光X線, 監視用, XRF, ベンチトップ型
波長

最少: 165 nm

最大: 770 nm

詳細

要求の厳しいアプリケーション向けに設計された元素分析装置– SPECTRO XEPOSエネルギー分散型蛍光X線(ED-XRF)分析装置は、XRF分析を非常に新しいレベルの性能で再定義します。 卓越した感度により、最大3倍の精度が向上します。これは、微量元素から主要元素に至るまで正確な分析をおこなうための基礎となります。 かつてない微量レベル: 適応性に優れた励起、高度な管球設計、および高カウントスループット検出システムにより、広範囲の元素の検出下限(感度の性能)が大幅に(通常は3倍)向上します。 未知のものをマスターする: Turboquant IIソフトウェアツールは、未知のサンプルが液体、固体、粉末のいずれであるかに関係なく、樹木の葉、プラスチック、オイル、花崗岩、ガラスなどの未知のサンプルを分析する前例のない機能を提供します。 新型SPECTRO XEPOS分析装置は、エネルギー分散型蛍光X線技術の飛躍的な進歩を表しています。 主成分、微量、極微量元素濃度の多元素分析に画期的な進歩をもたらします。 Turboquant IIソフトウェアツールは、未知のサンプルが液体、固体、粉末のいずれであるかに関係なく、樹木の葉、プラスチック、オイル、花崗岩、ガラスなどの未知のサンプルを分析する前例のない機能を提供します。 驚くべきSPECTRO XEPOSは、迅速なスクリーニング分析から正確な製品品質管理までの重要な業務に優れています。 さまざまな産業でのアットライン処理、地質学と鉱業、環境と廃棄物のモニタリング、研究と学界に適用します。 異なるバージョンは、特定のマトリックス内の選択された元素グループの性能を最大化します。 革新的なX線管と独自の新しい適応性に優れた励起技術により、選択したターゲット元素に最適化された最高の感度が得られます。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。