光学発光分光計

波長: 185 nm - 672 nm

シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です 発光分光装置（OES）は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の可搬型発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果をご提供致します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 日立携帯用発光分光装置（OES）を選ぶ理由 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡も分析して、元素を抽出 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル範囲 一体化されたグレードデータベース 完全な携帯性 素早く信頼性の高い解析により現場ですぐに結果を取得 コードレス操作で丸一日操作可能な極めて長時間のバッテリー寿命 スペクトル線分離のための高分解能マルチCCD光学系 軽量プローブ 厳しい環境でも連続使用可能

波長: 165 nm - 420 nm

シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です 発光分光装置（OES）は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の可搬型発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果をご提供致します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡も分析して、元素を抽出 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル範囲 一体化されたグレードデータベース 完全な携帯性 素早く信頼性の高い解析により現場ですぐに結果を取得 コードレス操作で丸一日操作可能な極めて長時間のバッテリー寿命 スペクトル線分離のための高分解能マルチCCD光学系 軽量プローブ 厳しい環境でも連続使用可能 迅速で簡単なグレード識別のための最大の金属データベースが弊社の全ての発光分光装置にインストールされています 69の国及びスタンダードからの320,000件以上の資料と、1,000万件以上のレコード 数回のクリックだけで機器のグレードのデータベースを更新 用例やグレードカタログを調べる時間をカット 簡単でほんのわずかの操作で以下が可能です： 異種金属と同等のものを見つけて、代替品と比較する（相互参照）

波長: 175 nm - 420 nm

シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です。 発光分光装置（OES）は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の固定式発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果提供します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 なぜ日立の固定式発光分光装置（OES）が選ばれるのか？ 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡や別の元素が混入していても主要な金属と合金の分析が可能 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル範囲 一体化されたグレードデータベース 指先で操作するだけで結果を取得：幅広い結果フォームと自動保存 頑丈で信頼性の高い技術を使用した高い分析性能 極短時間の始動時間と測定時間 三方向から利用可能なサンプルスタンド スペクトル線分離のための高分解能マルチCCD光学系 豊富な結果、レポート、結果処理オプション機能 ピークポジションアライメント（PPA）によって保証された優れた長時間の安定性 厳しい環境でも連続使用可能

シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です。 発光分光装置（OES）は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の固定式発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果提供します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 なぜ日立の固定式発光分光装置（OES）が選ばれるのか？ 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡や別の元素が混入していても主要な金属と合金の分析が可能 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル範囲 一体化されたグレードデータベース 指先で操作するだけで結果を取得：幅広い結果フォームと自動保存 頑丈で信頼性の高い技術を使用した高い分析性能 極短時間の始動時間と測定時間 三方向から利用可能なサンプルスタンド スペクトル線分離のための高分解能マルチCCD光学系 豊富な結果、レポート、結果処理オプション機能 ピークポジションアライメント（PPA）によって保証された優れた長時間の安定性 厳しい環境でも連続使用可能

波長: 117 nm - 670 nm

シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です。 発光分光装置（OES）は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の固定式発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果提供します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 なぜ日立の固定式発光分光装置（OES）が選ばれるのか？ 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡や別の元素が混入していても主要な金属と合金の分析が可能 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル範囲 一体化されたグレードデータベース 指先で操作するだけで結果を取得：幅広い結果フォームと自動保存 頑丈で信頼性の高い技術を使用した高い分析性能 極短時間の始動時間と測定時間 三方向から利用可能なサンプルスタンド スペクトル線分離のための高分解能マルチCCD光学系 豊富な結果、レポート、結果処理オプション機能 ピークポジションアライメント（PPA）によって保証された優れた長時間の安定性 厳しい環境でも連続使用可能