Reporting-Software PC-DMIS FUSION

QualitätAnalysefür statistische Analyse

Überblick
PC-DMIS FUSION ist die Reporting- und Analyseanwendung von Hexagon für PC-DMIS-Anwender und verwandelt Messdaten in Echtzeitinformationen, Visualisierungen, Erkenntnisse und SPC-Analysen. Daten synchronisieren sich automatisch aus PC-DMIS, und Berichte werden vom PC-DMIS-Startbildschirm mit einem Klick gestartet.

Kernkonzepte
PC-DMIS FUSION liefert rollenbasierte Berichte, die die relevanten Informationen für CMM-Bediener, Messtechnikingenieure, Qualitätsmanager oder Produktionsleiter darstellen. Es unterstützt Aufgaben von der Überprüfung einer einzelnen Messung in der Fertigung bis zur Überwachung eines Prozesses über Schichten hinweg und der statistischen Analyse von Produktionspopulationen. FUSION verbindet Geschwindigkeit, Einfachheit und analytische Tiefe, um Qualitätsteams von reaktiver Prüfung zu prädiktivem Qualitätsmanagement zu führen.

Benutzererlebnis
Eine moderne, intuitive Oberfläche und nutzerorientierte Workflows geben Bedienern, Ingenieuren und Managern schnellen Zugriff auf die jeweils benötigten Daten. Arbeiten Sie mit dimensionalen Daten in einer interaktiven Reporting-Umgebung: sortieren, filtern und in Ergebnisse hineinzoomen, zwischen Text- und CAD-Ansichten wechseln und Bauteilzusammenfassungen, Erkenntnisse und Ereignisprotokolle neben numerischen Ergebnissen anzeigen.

Bereitstellung
FUSION wird neben PC-DMIS installiert und speichert Messdaten auf lokaler Hardware. Es ist so konzipiert, dass es ohne Internetverbindung oder Cloud-Konto betrieben werden kann und die Messdaten auf Ihren eigenen Systemen verbleiben.

Statistische und analytische Fähigkeiten
Leistungsstarke statistische Analysen ohne unnötige Komplexität: Verstehen Sie, wie sich ein Prozess im Zeitverlauf verhält, erhalten Sie Frühwarnungen bei Prozessdrift und prognostizieren Sie die Entwicklung von Merkmalen auf Basis jüngster Stichproben, sodass Alarme vor Toleranzüberschreitungen ausgelöst werden können.

Funktionen

• Interaktives Reporting und Visualisierung: sortieren, filtern, in Ergebnisse hineinzoomen; Text- und CAD-Ansichten; Bauteilzusammenfassungen, Erkenntnisse und Ereignisprotokolle.
• Echtzeit-Qualitätsüberwachung: Produktion in Raster- oder CAD-Ansicht beobachten, automatische Messdatenversorgung aus PC-DMIS, schlechteste Merkmale zuerst anzeigen und Abweichungsalarme auslösen.
• Prädiktive Qualität: Vorhersage von Merkmalstrends und Vor-Toleranz-Warnungen, um von reaktiver Prüfung zu proaktiven Warnungen zu wechseln.
• Statistische Prozessregelung (SPC): Cp/Cpk pro Merkmal mit konfigurierbaren Grenzen, Nelson-Regeln einzeln umschaltbar, Inline-Trend-, Histogramm- und Boxplot-Diagramme sowie Unterstützung für kritische Merkmale mit engeren Warnschwellen.
• Trace-getriebene Analyse: Stichproben nach Bediener, Schicht, Maschine, Los oder benutzerdefinierten Trace-Feldern filtern; Filter über Status und Zeitfenster kombinieren; von aggregierten Statistiken zu einzelnen Stichproben bohren.
• Durchsuchbare Messhistorie: Historische Berichte mit einem Klick abrufen, ein Archiv vergangener Dimensionsdaten und Metrologieberichte für Ursachenanalysen, Audit und Rückverfolgbarkeit durchsuchen; Altdaten per DFQ Drag-and-Drop importierbar.

Typische Anwendungsfälle
Einzelmessungen in der Fertigung prüfen; Prozessverhalten über Schichten hinweg überwachen; statistische Analysen von Produktionspopulationen durchführen; Ursachenanalysen mit durchsuchbaren historischen Daten und Trace-Filtern durchführen.

Spezifikationen

• Daten­synchronisation: automatisch aus PC-DMIS
• Reporting: rollenbasierte Berichte für Bediener, Ingenieur, Qualität und Produktion
• Bereitstellungsmodell: lokal installiert neben PC-DMIS; lokale Datenspeicherung (keine Cloud erforderlich)
• SPC-Funktionalität: Cp/Cpk, Nelson-Regeln, konfigurierbare Grenzen, Trend-/Histogramm-/Boxplot-Diagramme
• Filtern und Rückverfolgbarkeit: Bediener, Schicht, Maschine, Los, benutzerdefinierte Trace-Felder
• Historische Daten: durchsuchbares Archiv, DFQ-Import für Altdaten
• Interaktive Ansichten: Raster- und CAD-Ansichten, Drill‑down zu einzelnen Stichproben