Escáner para maletas XIS-6545DV™

de inspecciónpara aeropuertode rayos X

Información del producto
El XIS-6545DV™ es un sistema de inspección por rayos X (XIS) configurado para cribado con doble vista. Sus dos generadores de 180 kV proporcionan ángulos de visión ascendentes y diagonales. Cada vista puede controlarse de forma independiente para permitir inspecciones rápidas y profundas y el uso simultáneo de diferentes modos de cribado.
Con el software de imagen Astrophysics, el XIS-6545DV™ ofrece imágenes coloridas y de alto contraste que ayudan a los operadores a identificar materiales, reconocer objetos y aislar posibles amenazas con mayor rapidez y precisión.

Puntos destacados

• Imágenes de doble vista (ascendente y diagonal)
• Imágenes de alta resolución con color de 24 bits
• Mejora en la discriminación de materiales
• Sistema operativo Windows con procesador Intel® Core™
• Diagnósticos en tiempo real y monitorización del sistema
• Análisis de imagen de alto contraste y filtros de color

Especificaciones
Generador:
Dual 180 kV
Tamaño del túnel:
65,7 cm x 45,1 cm (25,9" x 17,8")
Longitud:
213,3 cm (84,0")
Ancho:
101,6 cm (40,0")
Altura:
129,0 cm (50,8")

Especificaciones técnicas

• Modelo: XIS-6545DV™
• Tipo de sistema: Sistema de inspección por rayos X de doble vista
• Generador: Dual 180 kV
• Tamaño del túnel: 65,7 cm x 45,1 cm (25,9" x 17,8")
• Dimensiones (L x A x H): 213,3 cm x 101,6 cm x 129,0 cm (84,0" x 40,0" x 50,8")
• Imagen: Doble vista, alta resolución 24 bits; discriminación mejorada de materiales; análisis de alto contraste
• Software/SO: Windows OS con procesador Intel® Core™; diagnósticos en tiempo real