Escáner para maletas XIS-6545N™

de inspecciónpara aeropuertode rayos X

Puntos destacados

• Huella compacta y estrecha para despliegues en espacios reducidos
• Imágenes en color de 24 bits de alta resolución con análisis de alto contraste
• Discriminación de materiales mejorada para identificación más rápida de amenazas
• Sistema Windows con procesador Intel® Core™
• Diagnósticos en tiempo real
• Túnel ancho (62,0 cm x 45,0 cm) en un chasis compacto

Información del producto
El XIS-6545N™ es un sistema compacto de inspección por rayos X diseñado para puntos de control y ubicaciones con espacio limitado. Con un bastidor exterior estrecho y un túnel de 62,0 cm x 45,0 cm (24.4" x 17.7"), inspecciona una amplia gama de objetos minimizando la huella. Con la tecnología de imagen de Astrophysics, los operadores obtienen imágenes en alta definición y color de 24 bits con alto contraste para discriminar materiales y localizar rápidamente amenazas potenciales con mayor precisión. El sistema funciona con Windows y procesador Intel® Core™ e incluye diagnósticos en tiempo real para operación continua y resolución rápida de incidencias.

Especificaciones (resumen)

• Generador: 160 kV
• Tamaño del túnel: 62,0 cm x 45,0 cm (24.4" x 17.7")
• Longitud: 153,4 cm (60.4")
• Ancho: 83,7 cm (32.9")
• Altura: 130,5 cm (51.4")

Especificaciones técnicas

• Imágenes: color 24 bits de alta resolución; análisis de imagen de alto contraste
• Discriminación de materiales: capacidades mejoradas
• Plataforma: Windows con procesador Intel® Core™
• Diagnósticos: diagnósticos en tiempo real
• Diseño: chasis compacto con huella reducida y túnel ancho para puntos de control / despliegues en espacios limitados