ASPECTOS DESTACADOS- Imágenes de doble vista
- Imágenes de alta resolución en color de 24 bits
- Mejora en la discriminación de materiales
- Sistema Windows con procesador Intel® Core™
- Diagnósticos en tiempo real
- Análisis de imagen de alto contraste
INFORMACIÓN DEL PRODUCTOEl XIS-6545DVS™ es un sistema de inspección por rayos X diseñado con generadores de imagen duales que permiten capturar vistas simultáneas e independientes de objetos y equipaje, reduciendo puntos ciegos y mejorando la precisión de detección. Cada vista puede revisarse de forma independiente mediante el software de cribado multicolor y de alto contraste de Astrophysics.
Las imágenes de alta resolución y la salida en color de 24 bits aumentan el rendimiento al reducir el tiempo invertido en falsas alarmas y verificaciones manuales, favoreciendo un procesamiento más rápido en entornos operativos.
CARACTERÍSTICAS / ESPECIFICACIONES TÉCNICAS- Generador: Dual 180kV
- Tamaño del túnel: 65.0 cm x 45.2 cm (25.6" x 17.8")
- Longitud: 204.0 cm (80.3")
- Ancho: 128.2 cm (50.5")
- Altura: 135.0 cm (53.1")