Scanner pour bagages XIS-6545DV™

d'inspectionpour aéroportà rayons X

Informations produit
Le XIS-6545DV™ est un système d'inspection aux rayons X conçu pour le contrôle en double vue. Ses deux générateurs 180 kV fournissent des images en vue ascendante et diagonale. Chaque vue peut être pilotée indépendamment pour permettre des inspections rapides et approfondies et l'utilisation simultanée de modes de contrôle différents.
Grâce au logiciel d'imagerie Astrophysics, le XIS-6545DV™ fournit des images colorisées à fort contraste, facilitant l'identification des matériaux, la reconnaissance des objets et l'isolation des menaces potentielles avec une meilleure rapidité et précision.

Points forts

• Imagerie à double vue (ascendante et diagonale)
• Images haute résolution en couleur 24 bits
• Meilleure discrimination des matériaux
• Système d'exploitation Windows avec processeur Intel® Core™
• Diagnostic en temps réel et surveillance système
• Analyse d'image à fort contraste et filtres colorés

Spécifications
Générateur :
Double 180 kV
Taille du tunnel :
65,7 cm x 45,1 cm (25,9" x 17,8")
Longueur :
213,3 cm (84,0")
Largeur :
101,6 cm (40,0")
Hauteur :
129,0 cm (50,8")

Caractéristiques techniques

• Modèle : XIS-6545DV™
• Type de système : Système d'inspection aux rayons X double-vue
• Générateur : Double 180 kV
• Taille du tunnel : 65,7 cm x 45,1 cm (25,9" x 17,8")
• Dimensions (L x l x H) : 213,3 cm x 101,6 cm x 129,0 cm (84,0" x 40,0" x 50,8")
• Imagerie : Double-vue, haute résolution 24 bits ; discrimination améliorée des matériaux ; analyse à fort contraste
• Logiciel/OS : Windows OS avec processeur Intel® Core™ ; diagnostics en temps réel