Scanner pour bagages XIS-6545N™

d'inspectionpour aéroportà rayons X

Points forts

• Empreinte au sol compacte et étroite pour installations à espace réduit
• Imagerie haute résolution 24 bits avec analyse à fort contraste
• Discrimination des matériaux améliorée pour identification rapide des menaces
• Système Windows avec processeur Intel® Core™
• Diagnostics en temps réel
• Large tunnel (62,0 cm x 45,0 cm) dans un châssis compact

Informations produit
Le XIS-6545N™ est un système d'inspection aux rayons X compact conçu pour les postes de contrôle et les emplacements restreints. Avec une structure externe étroite et un tunnel de 62,0 cm x 45,0 cm (24.4" x 17.7"), il permet d'analyser une large gamme d'objets tout en minimisant l'encombrement. Grâce à la technologie d'imagerie d'Astrophysics, les opérateurs obtiennent des images haute définition en couleur 24 bits avec un fort contraste, facilitant la discrimination des matériaux et la localisation rapide et précise des menaces potentielles. Le système fonctionne sous Windows avec un processeur Intel® Core™ et intègre des diagnostics en temps réel pour garantir une exploitation continue et un dépannage rapide.

Spécifications (résumé)

• Générateur : 160 kV
• Dimensions du tunnel : 62,0 cm x 45,0 cm (24.4" x 17.7")
• Longueur : 153,4 cm (60.4")
• Largeur : 83,7 cm (32.9")
• Hauteur : 130,5 cm (51.4")

Caractéristiques techniques

• Imagerie : couleur 24 bits haute résolution ; analyse d'image à fort contraste
• Discrimination des matériaux : capacités améliorées
• Plateforme : Windows avec processeur Intel® Core™
• Diagnostics : diagnostics en temps réel
• Conception : châssis compact à faible empreinte avec tunnel large pour postes de contrôle / déploiements en espace limité