Scanner pour bagages XIS-6545DVS™

d'inspectionpour aéroportà rayons X

POINTS CLÉS

• Imagerie à double vue
• Images haute résolution en couleur 24 bits
• Discrimination des matériaux améliorée
• Système Windows avec processeur Intel® Core™
• Diagnostics en temps réel
• Analyse d'image à fort contraste

INFORMATIONS PRODUIT
Le XIS-6545DVS™ est un système d'inspection par rayons X conçu avec deux générateurs d'imagerie permettant d'acquérir des vues simultanées et indépendantes des objets et bagages, réduisant les zones d'ombre et améliorant la précision de détection. Chaque vue peut être consultée indépendamment via le logiciel de criblage multi-couleurs et à contraste élevé d'Astrophysics.
La qualité d'image haute résolution et la restitution en couleur 24 bits augmentent le débit en réduisant le temps consacré aux fausses alertes et aux contrôles manuels, facilitant un traitement plus rapide en environnement opérationnel.

CARACTÉRISTIQUES / SPÉCIFICATIONS TECHNIQUES

• Générateur : Dual 180kV
• Taille du tunnel : 65.0 cm x 45.2 cm (25.6" x 17.8")
• Longueur : 204.0 cm (80.3")
• Largeur : 128.2 cm (50.5")
• Hauteur : 135.0 cm (53.1")