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波長: 185 nm - 672 nm
... クラウドベースのデータ管理サービスや、使いやすくカスタマイズされたレポートジェネレーターをご利用いただけます。測定結果をリモートデバイスで共有したり、他のソフトウェアにエクスポートすることができます。 技術仕様 Paschen-RungeマウントのマルチCCD光学系と最適化されたピクセル解像度 コンピューターシステム内部コンピューター・ユニットとタッチスクリーン・ユーザー・インターフェイス 2年間の延長保証を標準装備*。 代表的なアプリケーション 鋼合金 ステンレス鋼のLグレード偏析 鋼のC、P*、 ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
波長: 165 nm - 420 nm
... 入庫材料と出庫材料のグレードの取り違えを防ぎ、材料の確認と品質管理を行い、スクラップヤードでの利益を最大化しようとする場合、このOEスペクトロメーターは最適なソリューションです。移動式スパーク分光計 PMI-MASTER Pro2 があれば、正しい決断を下すために必要な分析性能を確実に得ることができます。また、2年間の延長保証を標準装備*しました。 PMI-MASTER Pro2を選ぶ理由 信頼性の高いC分析 Lグレードのステンレス鋼から低合金鋼、炭素鋼まで、正確な炭素分析が可能です。 すぐに ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
波長: 175 nm - 420 nm
... によるドリフトの影響を最小限に抑えています。 長寿命と低ランニングコスト 直接測光方式(Direct Light Path) 本装置では、光ファイバーを使用しない直接測光方式にすることで、光ファイバやレンズなどの光学系部品のメンテナンス頻度や経年劣化の影響を最小限に抑えています。光学系をコンパクトに設計することでまた、少ないArガスで運用できるため、日々のランニングコストも低減することができます。
Hitachi High-Tech Analytical Science
... によるドリフトの影響を最小限に抑えています。 長寿命と低ランニングコスト 直接測光方式(Direct Light Path) 本装置では、光ファイバーを使用しない直接測光方式にすることで、光ファイバやレンズなどの光学系部品のメンテナンス頻度や経年劣化の影響を最小限に抑えています。光学系をコンパクトに設計することでまた、少ないArガスで運用できるため、日々のランニングコストも低減することができます。
Hitachi High-Tech Analytical Science
波長: 117 nm - 670 nm
... の影響を最小限に抑えています。 *1 長寿命と低ランニングコスト 直接測光方式(Direct Light Path) 本装置では、光ファイバーを使用しない直接測光方式にすることで、光ファイバやレンズなどの光学系部品のメンテナンス頻度や経年劣化の影響を最小限に抑えています。光学系をコンパクトに設計することで、少ないArガスで運用できるため、日々のランニングコストも低減することができます。 メンブレンポンプの採用 メンブレンポンプは騒音発生を抑え、オイルレスで稼働するため日常でのメンテナンス ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
... コード化された放射線画像技術に基づき、放射性物質を正確に画像化することができます。税関や空港などの出入口で、放射性物質が隠されていないか、監視員や荷物から目視で確認するのに適しています。 超高解像度のコード化された開口部により、放射性物質の位置を正確に特定。 高精度の可視光と核放射線の融合画像により、核放射線のホットスポットを直感的に表示。 放射性物質を離れた場所からリアルタイムで追跡・監視するための高速ダイナミックイメージング エネルギースペクトルのリアルタイム表示、核種の識別、線量率の測定 オーディオビジュアルアラーム、画像とデータの自動保存、便利で使いやすい ...
波長: 130 nm - 770 nm
... マーケットで唯一のマルチビュープラズマ装置―真のアキシャルそしてラジアル（シングルまたはデュアル）プラズマ測光を1台の装置内に搭載 ORCA光学系システム：エシェル光学系システムと比較し最大5倍の感度を有し、130～770nm範囲を同時スペクトラムキャプチャ ― 紫外／真空紫外領域で最高のパフォーマンスを提供 SPECTRO ARCOS誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ ...
SPECTRO
波長: 175 nm - 770 nm
シーケンシャルICPおよびフレーム原子吸光の強力な代替手段：1日あたり最大700サンプルを分析する機能を備えた175〜770nmの波長範囲での同時分光キャプチャ 低い運用費用：最小0.5 l / minの光学パージ、ウォーターチラーは不要 ゲートからの高速化：新しいLDMOSジェネレーターによるウォームアップ時間は10分未満（以前は30分以上） SPECTRO GENESISは、最初にメソッドを作成する必要のない、ファクトリーメソッドの完全なセットを備えた最初で唯一のICP-OES（ ...
SPECTRO
波長: 165 nm - 770 nm
クラス最速：一般的な検査と比較し2倍の速さ、かつ高精度 カバーする元素の数と分析正確さに優れます：最適化されたアプリケーションパッケージ 使いやすさを追求：わずか3つのステップで正確に分析 新型SPECTROCUBE ED-XRF分析装置は、さまざまなアプリケーションに対して、簡単で信頼性が高く、正確で、高スループットな分析を提供します。 例：貴金属の分析、コンプライアンススクリーニングまたは燃料と潤滑油の分析。 SPECTROCUBE分析装置には、高分解能で高カウントレートの検出器を含む最先端のED-XRFテクノロジーが組み込まれており、短い測定間隔、直感的なソフトウェアによる簡単なワークフロー、低中断時間を実現します。 SPECTROCUBEは、最小限のトレーニングを受けたユーザーでも、比類のない使いやすさで高速でスムーズなワークフローを実現します。 ...
SPECTRO
貴金属マーケットにおける品位判定機のスタンダード 主成分、微量ともに最高の正確度で分析することができるファクトリー・キャリブレーションをベースに、30を超える元素をカバー 最大3分の1短縮された測定時間：従来と同等の測定時間で極めて優れた結果を得るか、大幅に短縮した測定時間で従来と同程度の結果を得るかの選択が可能となりました 元素分析の正確度は、特に貴金属の評価において重要とされることがあります。 他のアプリケーションでは、スピードがさらに重要です。 大量のものを扱うホールマークセンターでは、高速かつ正確な分析が求められます。 ...
SPECTRO
貴金属合金用の軽量でポータブルな元素分析装置。スポットサイズはわずか1mm 高速かつオンサイト： 岩石、堆積物、土壌の元素分析。 Naから始まる元素範囲、関連する微量元素の検出下限は、他のポータブルおよびハンドヘルドXRF装置と比較して大幅に低くなっています。 生産ラインで： アプリケーション固有のパッケージによる高い生産性。 高い分析力を備えた小さなフットプリント。 新しいポータブル型SPECTROSCOUT ED-XRF分析装置は、最高級のラボ用ベンチトップ分析装置の分析能力の多くを提供します。 ...
SPECTRO
波長: 120 nm - 670 nm
... 行えます。 新型MAXxにおける改良点： UVカートリッジを採用し、UV光学系内にArガスを封入することにより、待機時のアルゴンガス消費量を64%削減しました。 装置前面にスタート・ストップボタンを追加することにより、より迅速に分析を行うことが可能となりました。 クイックチェックプログラム：FeとAlベースの主要な元素を12秒で分析できるプログラムを追加することができ、生産性の向上に貢献します。 UV光学系にCMOS検出器を採用することにより、チタン中の水素・酸素・窒素の定量分析が可能 ...
SPECTRO
波長: 120 nm - 670 nm
据置型発光分光分析装置SPECTROCHECKは、中小規模の鋳工所や機械加工業者から要求される分析性能と予算を満たすように特別に設計されています。この高品質かつコンパクトで手頃な価格の装置は、Fe（鉄）、Al（アルミニウム）、Cu（銅）ベースの金属の元素含有量の日常的な分析に理想的です。 SPECTROCHECKを使用している企業は、その金属の品質に関する最も厳格な規格を満たすために試験されていることを顧客に保証することができます。 光学系 特許出願中の新しい光学技術を採用しています。 ...
SPECTRO
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