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波長: 185 nm - 672 nm
シームレスな品質管理は、スクラップの不純物解析、入荷材料の検査、鋳造過程や製品の品質保証・品質管理まで、あらゆる金属加工に不可欠です 発光分光装置（OES）は、広範囲の金属の元素組成分析に広く使用されている信頼性の高い分析技術です。 弊社の可搬型発光分光装置は、最高レベルの精度の正確な分析結果をご提供致します。ソフトウェアパッケージはパワフルで使いやすく、ほぼ全てのアプリケーションをカバーしています。 日立携帯用発光分光装置（OES）を選ぶ理由 幅広い元素を対象としており検出限界が低い 底金の痕跡も分析して、元素を抽出 スチールの窒素を含む、ほぼ全ての関連元素をカバーする業界最大の広いスペクトル範囲 一体化されたグレードデータベース 完全な携帯性 素早く信頼性の高い解析により現場ですぐに結果を取得 コードレス操作で丸一日操作可能な極めて長時間のバッテリー寿命 スペクトル線分離のための高分解能マルチCCD光学系 軽量プローブ 厳しい環境でも連続使用可能
波長: 130 nm - 770 nm
新型デュアルサイドオン・インターフェース（DSOI）が、感度を高めながらも、コンタミ／マトリックスマッチングの問題を取り除きます 2つに代わり1つで：マーケットで唯一のマルチビュープラズマ装置―真のアキシャルそしてラジアル（シングルまたはデュアル）プラズマ測光を1台の装置内に搭載 ORCA光学系システム：エシェル光学系システムと比較し最大5倍の感度を有し、130～770nm範囲を同時スペクトラムキャプチャ ― 紫外／真空紫外領域で最高のパフォーマンスを提供 SPECTRO ...
SPECTRO
波長: 165 nm - 770 nm
要求の厳しいアプリケーション向けに設計された元素分析装置– SPECTRO XEPOSエネルギー分散型蛍光X線（ED-XRF）分析装置は、XRF分析を非常に新しいレベルの性能で再定義します。 卓越した感度により、最大3倍の精度が向上します。これは、微量元素から主要元素に至るまで正確な分析をおこなうための基礎となります。 かつてない微量レベル： 適応性に優れた励起、高度な管球設計、および高カウントスループット検出システムにより、広範囲の元素の検出下限（感度の性能）が大幅に（通常は3倍）向上します。 未知のものをマスターする： ...
SPECTRO
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