PRÜFUNG VON FOLIE, LAMINAT, OBERFLÄCHE, LEITERBAHNEN UND DURCHGANGSBOHRUNGEN MIT EINEM EINZIGEN GERÄT
Das CMl760® kann mit mehreren Prüfkopftypen ausgestattet werden, um nahezu jede Leiterplattenanwendung, einschließlich Oberflächenkupfer und Durchgangslochanwendungen, zu erfüllen.
Unser CMl760® wird standardmäßig mit der SRP-4-Sonde und einem fortschrittlichen Statistikpaket zur Auswertung der Prüfdaten geliefert.
Dieses Gerät ist sehr ausbaufähig und kann sowohl Mikro-Widerstands- als auch Wirbelstromprüfungen zur genauen und präzisen Messung von Kupfer durchführen. Optionales Zubehör ist für die Messung der Kupferdicke in Durchgangsbohrungen erhältlich.
SRP-4-SONDE
Das CMI760® verfügt über eine angebundene SRP-4-Sonde mit vom Benutzer austauschbaren Spitzen, die zusätzlichen Komfort bietet und kostengünstiger ist. Diese Sonde besteht aus vier Stiften, die sicher in einem patentierten Design eingeschlossen sind, das für Langlebigkeit und Widerstandsfähigkeit gegen Bruch und Verschleiß sorgt. Ein durchsichtiges Gehäuse ermöglicht die einfache Platzierung der Sonde auf kleinen Leiterbahnen. Das Verbindungskabel ist ideal für den Einsatz vor Ort, und die kleine Stellfläche ist praktisch und benutzerfreundlich.
OPTIONALER ETP-TASTKOPF
Mit unserer ETP-Sonde arbeitet das CMI760® mit Wirbelstrom für Messungen durch Bohrungen. Diese Sonde liefert unabhängig von den verschiedenen Lagen der Leiterplatte genaue Messwerte und funktioniert gleichermaßen gut auf doppelseitigen und mehrlagigen Leiterplatten, vor und nach dem Ätzen,
sogar mit Zinn- und Zinn/Blei-Resist. Sie bietet außerdem eine Temperaturkompensationsfunktion für die Messung der Leiterplatte unmittelbar nach dem Herausnehmen aus dem Galvanisierungsbehälter.
SPEZIFIKATIONEN DES MESSGERÄTS
Abmessungen: in : 11 1/2 (B) x 10 1/2 (T) x 5 1/2 (H)
cm: 29,21 (B) x 26,67 (T) x 13,97 (H).
Gewicht: 2,7 kg (6 lbs.).
Einheit: Wählen Sie aus mils, µm, µin, mm, in.,
oder % als Einheit für die Anzeige.
Anzeige: Großes LCD-Display mit 480 (H) x 320 (V) Pixeln
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