ÜbersichtDie REX1 Pulse-Receive (PR) Dual Linear Array™ (DLA) Sonde ist für Korrosionsprüfungen und die Erkennung oberflächennaher Fehler ausgelegt. Das PR-Kabelsystem und die Pitch-Catch-Anordnung ermöglichen fortgeschrittene Phased-Array-Techniken wie Total Focusing Method (TFM) und Phase Coherence Imaging (PCI) zur verbesserten Darstellung flacher Fehler.
Vorteile und Merkmale- Pulse-Receive (PR) Verdrahtung zur Unterstützung komplexer Fokalgesetze
- Total Focusing Method (TFM)
- Phase Coherence Imaging (PCI)*
- Pitch-Catch-Architektur reduziert Interface-Echos und verbessert die Nahfeldauflösung
- Optimierte Strahlabgabe und große Strahlabdeckung (bis zu 30 mm)
- On-board Fokalgesetz-Dateien kompatibel mit OmniScan™ X3 und OmniScan X3 64
- Kompatibilität mit Prüfgeräten mit Pulser/Receiver-Modulen
- Integration mit der Inspektions- und Analyse-Software WeldSight™
- Erkennung von Defekten ab 1 mm (0,04 in) unter der Oberfläche
- Typische Prüfentiefe in Baustahl: 1–80 mm
- Schnellverstellsystem für Durchmesser ab 4 in bis zur ebenen Fläche
- Austauschbare Verzögerungsleitung, integrierte Spülung und Hartmetall-Verschleißplatten
Typische AnwendungenManuelle, halb- oder vollautomatische Korrosionsuntersuchungen und Beurteilung kritischer Fehler, einschließlich Pitting, Kriechschäden und wasserstoffinduzierten Rissen (HIC). Empfohlen, wenn hohe Nahfeldauflösung und präzise Vermessung flacher Fehler erforderlich sind.
Dual Array Pitch-Catch TechnikDLA-Sonden verwenden getrennte Reihen von Sender- und Empfängerelementen auf geneigten Verzögerungsleitungen, um Energie unterhalb der Oberfläche zu fokussieren. Diese Geometrie verringert die Amplitude von Oberflächenreflexionen deutlich und erhöht die Nachweiswahrscheinlichkeit für flache Fehler.
Spezifikationen- Modellfamilie: REX1 Dual Linear Array™ (DLA) PR probe
- Verfügbare Modelle:
- 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW — Artikel-Nr. Q3301867 — Kabel 2,5 m
- 7.5DL32-32X5-REX1-P-5-OM-IHC-PR-RW — Artikel-Nr. Q3302172 — Kabel 5 m
- Betriebsfrequenz: 7,5 MHz
- Anzahl Elemente: Dual 32
- Pitch: 1 mm
- Aktive Apertur: 32 mm
- Elevation: 5 mm
- Außenmaße (L×B×H): 66 × 40 × 44 mm (2,57 × 1,58 × 1,73 in)
- Strahlabdeckung: bis zu 30 mm (1,18 in)
- Typische Prüfentiefe in Baustahl: 1 bis 80 mm
- Nachweisbare oberflächennahe Defekttiefe: ab 1 mm (0,04 in)
- Wartungsmerkmale: austauschbare Verzögerungsleitung, integrierte Spülung, Hartmetall-Verschleißplatten, Schnellverstellung für kleine Durchmesser bis Flächen
- Unterstützte Bildgebungstechniken: Phased Array (PA), Total Focusing Method (TFM), Phase Coherence Imaging (PCI; PCI verfügbar auf OmniScan X3 64)