Keil-Ultraschallsonde 10DL32-9.6X5-A28

Phased-ArrayHochtemperatur

Erkennung und Bestimmung kleinerer HTHA-Risse Die frühzeitige und zuverlässige Erkennung von HTHA ist eine so große Herausforderung, dass oft mehrere Prüfmethoden zusammen eingesetzt werden, um die Erkennungswahrscheinlichkeit zu erhöhen. Als besonders effektive Prüftechniken für diese Anwendung haben sich die Laufzeitbeugung (TOFD), die fokussierte Phased-Array-Methode (PA) und die Total Focusing Method (TFM), insbesondere unter Verwendung von Dual Linear Array (DLA) Sensoren, erwiesen. Diese Techniken, sowie das innovative Phase Coherence Imaging (PCI) zur Hervorhebung kleiner Fehler und Rissspitzen, werden alle vollständig vom OmniScan X4 Prüfgerät unterstützt. Die OmniScan X4 Geräte bieten zudem eine Vielzahl integrierter Softwarefunktionen, die die Konfiguration und den Analyse-Workflow vereinfachen. Integrierte DLA-Sensorkonfiguration und Scannerkonfiguration Hochaufgelöste TFM-Bilder (bis zu 1,024 × 1,024 Punkte) Softwarefunktionen zur Optimierung des TFM-Prüfprozesses, von der Konfiguration bis zur Analyse (Prüfplan mit AIM-Modell, automatische TCG, Sparse Firing, Softwareseitige Verstärkung und Farbpalettenregler, Live-TFM-Hüllkurve und Bildfilter, Blenden und Alarme) PA mit 64 Elementen und TFM-Blende und erweiterte TFM-Blende (OmniScan X4 64:128PR Modell) Phase Coherence Imaging zur Erkennung kleiner Fehler und Rissspitzen (alle OmniScan X4 Modelle) Gleichzeitige Erfassung von bis zu 8 TOFD- und Phased-Array-Gruppen für ein effizientes Screening Gleichzeitige Erfassung und Anzeige von bis zu 4 TFM- und PCI-Gruppen Plane Wave Imaging (PWI) verfügbar mit TFM und PCI (unter Verwendung des OmniScan X4 Geräts mit Linear Array Sensoren) Sensoren