Sonda a ultrasuoni a gomito 10DL32-9.6X5-A28

a trasduttori multipliper alte temperature

Rilevamento e definizione di cricche da HTHA di dimensioni inferiori Il rilevamento tempestivo e affidabile dell'HTHA risulta così complesso che viene applicata una combinazione di diversi metodi di ispezione per massimizzare la probabilità di rilevamento. Il metodo TOFD (time of flight diffraction - diffrazione del tempo di volo), in associazione alla tecnica PA (phased array) e TFM (total focusing method - metodo a focalizzazione totale), avvalendosi in particolare delle sonde Dual Linear Array™ (DLA), hanno dimostrato di rappresentare delle tecniche di ispezione efficienti per questa applicazione. Il rilevatore di difetti OmniScan™ X4 supporta completamente questi metodi, oltre al PCI (phase coherence imaging - imaging a coerenza di fase), il quale migliora il rilevamento dei difetti di ridotte dimensioni e dell'estremità delle cricche. Gli strumenti OmniScan X4 inoltre offrono un'ampia gamma di strumenti software integrati per facilitare il flusso di lavoro di configurazione e di analisi. Configurazione integrata dello scanner e della sonda DLA Immagini TFM a alta risoluzione (fino a 1 024 × 1 024 punti) Strumenti software per ottimizzare il processo di ispezione TFM, dalla configurazione all'analisi (piano di scansione con modello AIM, YCG automatico, trasmissione ridotta, guadagno software e cursore palette, oltre a involucro TFM live e filtri delle immagini, gate e allarmi) Apertura TFM da 64 elementi e apertura TFM estesa da 128 elementi (modello OmniScan X4 64:128PR) Imaging a coerenza di fase per migliorare i difetti di ridotte dimensioni e le estremità delle cricche (tutti gli strumenti OmniScan X4)